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dft 文章 進(jìn)入dft技術(shù)社區
合見(jiàn)工軟發(fā)布測試向量自動(dòng)生成工具，大幅加速集成電路測試
- 2023年10月12日——上海合見(jiàn)工業(yè)軟件集團有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)“合見(jiàn)工軟”）宣布推出擁有自主知識產(chǎn)權的商用級、高效測試向量自動(dòng)生成工具UniVista Tespert ATPG，幫助工程師在進(jìn)行大規模SoC集成電路設計中實(shí)現可測性設計（DFT），以降低測試成本，提升芯片質(zhì)量和良率，縮短芯片設計周期，助力集成電路測試快速簽核，應對復雜集成電路架構帶來(lái)的挑戰。UniVista Tespert ATPG 創(chuàng )新自研多線(xiàn)程并行引擎，相比傳統單線(xiàn)程引擎，可以利用48線(xiàn)程實(shí)現高達29倍的提速，同時(shí)配合高效的測試向量生成算
- 關(guān)鍵字： 合見(jiàn)工軟 測試向量自動(dòng)生成工具 DFT
英諾達發(fā)布DFT靜態(tài)驗證工具，提高IC設計質(zhì)量及可靠性
- 英諾達（成都）電子科技有限公司發(fā)布了自主研發(fā)的靜態(tài)驗證EDA工具EnAltius?昂屹? DFT Checker，該工具可以在設計的早期階段發(fā)現與DFT相關(guān)的問(wèn)題或設計缺陷。隨著(zhù)芯片規模和復雜度的提升，芯片各種邏輯和電氣功能驗證的要求越來(lái)越高，多種RTL編碼風(fēng)格、以及存在于電路設計中的結構性和功能性問(wèn)題更容易成為設計上的缺陷，導致設計不斷修改，甚至造成流片失敗的風(fēng)險。此外，設計重用性和IP的高集成度對模塊設計在正確性和一致性方面提出了更嚴格的要求，以提高IP集成的可靠性和成功率。上述芯片設計的挑戰可以通過(guò)
- 關(guān)鍵字： 英諾達 DFT 靜態(tài)驗證工具 IC設計
DFT、DTFT和DFS你搞清楚了嗎？
- 大家好，又到了每日學(xué)習的時(shí)間了，今天咱們來(lái)聊一聊數字信號處理中DFT、DTFT和DFS的關(guān)系，咱們通過(guò)幾幅圖來(lái)對比，探討一下哦?！ 『芏嗤瑢W(xué)學(xué)習了數字信號處理之后，被里面的幾個(gè)名詞搞的暈頭轉向，比如DFT，DTFT，DFS，FFT，FT,FS等，FT和FS屬于信號與系統課程的內容，是對連續時(shí)間信號的處理，這里就不過(guò)多討論，只解釋一下前四者的關(guān)系?！ ∈紫日f(shuō)明一下，我不是數字信號處理專(zhuān)家，因此這里只站在學(xué)習者的角度以最淺顯易懂的性質(zhì)來(lái)解釋問(wèn)題，而不涉及到任何公式運算?！ W(xué)過(guò)卷積，我們都知道有時(shí)域卷積定
- 關(guān)鍵字： DFT DTFT DFS
低功耗制造性測試的設計-第二部分
- 假設設計的某個(gè)時(shí)鐘驅動(dòng)了大量觸發(fā)器，以至它們的峰值開(kāi)關(guān)動(dòng)作超過(guò)設計的總體功率預算。我們不希望測試邏輯去改變任何時(shí)鐘，相反我們將設計分割成N個(gè)模塊，各模塊具有自己的掃描啟動(dòng)引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數量和組成需要仔細選取，以便任何單個(gè)模塊(包括具有大部分觸發(fā)器的模塊)的觸發(fā)器開(kāi)關(guān)速率不超過(guò)總功率預算。從這方面講，可以認為分割將功率預算硬連(hardwire)進(jìn)了設計。
- 關(guān)鍵字： ATPG 數字電路設計 SoC DFT
低功耗制造測試的設計-第一部分
- 完全的數字電路測試方法通常能將動(dòng)態(tài)功耗提高到遠超出其規范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時(shí)間和精力去調試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規模SoC時(shí)這個(gè)問(wèn)題尤其突出，甚至會(huì )使生產(chǎn)線(xiàn)上出現不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問(wèn)題的最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過(guò)程中結合可感測功率的測試技術(shù)。本文將首先介紹動(dòng)態(tài)功耗與測試之間的關(guān)系，以說(shuō)明為何功率管理現在比以往任何時(shí)候都迫切；然后介紹兩
- 關(guān)鍵字： ATPG DFT 數字電路測試
儀器和測量技術(shù)中的DSP
- 關(guān)鍵字： 數字信號處理(DSP) 離散傅立葉變換(DFT) 小波變換
Magma 最新版Talus Design面世
- 美國加州圣荷塞 2009年4月14日– 芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動(dòng)化有限公司（納斯達克代碼：LAVA）日前宣布，該公司面向先進(jìn)集成電路的全芯片綜合產(chǎn)品Talus® Design的最新版本正式面市。新版Talus® Design包括了一個(gè)增強的時(shí)序優(yōu)化引擎、改善的內存使用效率以及先進(jìn)的生產(chǎn)率改進(jìn)，比如：創(chuàng )新性可用性、更為靈活的先進(jìn)腳本語(yǔ)言以及領(lǐng)先的第三方可測性設計（DFT）產(chǎn)品支持。同時(shí)，Talus Design與Talus Vortex相結
- 關(guān)鍵字： Magma RTL DFT Talus
dft介紹
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隨著(zhù)電子電路集成度的提高，電路愈加復雜，要完成一個(gè)電路的測試所需要的人力和時(shí)間也變得非常巨大。為了節省測試時(shí)間，除了采用先進(jìn)的測試方法外，另外一個(gè)方法就是提高設計本身的可測試性。其中，可測試性包括兩個(gè)方面：一個(gè)是可控制性，即為了能夠檢測出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加測試向量；另外一個(gè)是可觀(guān)測性，指的是對電路系統的測試結果是否容易被觀(guān)測到?！ ≡诩? [ 查看詳細 ]
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