DFT
DFT 隨著(zhù)電子電路集成度的提高,電路愈加復雜,要完成一個(gè)電路的測試所需要的人力和時(shí)間也變得非常巨大。為了節省測試時(shí)間,除了采用先進(jìn)的測試方法外,另外一個(gè)方法就是提高設計本身的可測試性。其中,可測試性包括兩個(gè)方...... [查看詳細]