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dft 文章 進(jìn)入dft技術(shù)社區
基于FPGA的FFT處理器設計
- 1 引言 隨著(zhù)數字技術(shù)的快速發(fā)展，數字信號處理已深入到條個(gè)領(lǐng)域。在數字信號處理中，許多算法如相關(guān)、濾波、譜估計、卷積等都可通過(guò)轉化為離散傅立葉變換(DFT)實(shí)現，從而為離散信號分析從理論上提供了變換工具。但DFT計算量大，實(shí)現困難?？焖俑盗⑷~(FFT)的提出，大大減少了計算量，從根本上改變了傅立葉變換的地位，成為數字信號處理中的核心技術(shù)之一，廣泛應用于雷達、觀(guān)測、跟蹤、高速圖像處理、保密無(wú)線(xiàn)通信和數字通信等領(lǐng)域。 目前，硬件實(shí)現FFT算法的方案主要有：通用數字信號處理器(DSP)、FFT專(zhuān)
- 關(guān)鍵字： FPGA FFT 處理器 DFT DSP
基于FPGA的高速流水線(xiàn)FFT算法實(shí)現
- 0 引言 有限長(cháng)序列的DFT(離散傅里葉變換)特點(diǎn)是能夠將頻域的數據離散化成有限長(cháng)的序列。但由于DYT本身運算量相當大，限制了它的實(shí)際應用。FFT(快速傅里葉變換)算法是作為DFT的快速算法提出，它將長(cháng)序列的DFT分解為短序列的DFT，大大減少了運算量，使得DFT算法在頻譜分析、濾波器設計等領(lǐng)域得到了廣泛的應用。 FPGA(現場(chǎng)可編程門(mén)陣列)是一種具有大規?？删幊涕T(mén)陣列的器件，不僅具有專(zhuān)用集成電路(ASIC)快速的特點(diǎn)，更具有很好的系統實(shí)現的靈活性。FPGA可通過(guò)開(kāi)發(fā)工具實(shí)現在線(xiàn)編程。與C
- 關(guān)鍵字： FPGA FFT 集成電路 DFT
微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX
- 微捷碼(Magma)設計自動(dòng)化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進(jìn)的自動(dòng)測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設計師能明顯改進(jìn)測試質(zhì)量, 減少周轉時(shí)間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進(jìn) 入Talus 物理設計環(huán)境, 微捷碼提供唯一真正實(shí)現物理相關(guān)DFT（Physically Aware DFT） 的IC 實(shí)現流程。 &n
- 關(guān)鍵字： 消費電子 微捷碼 Talus ATPG DFT MCU和嵌入式微處理器
Synopsys DFT MAX助珠海炬力節省90％測試成本
- Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys DFT MAX掃描壓縮自動(dòng)化解決方案實(shí)現其0.13微米系統級芯片(SoC)設計，使測試設備相關(guān)成本降低了90％。DFT MAX通過(guò)片上掃描數據壓縮，可顯著(zhù)減少高質(zhì)量制造測試所需的測試時(shí)間和測試數據量?！? 珠海炬力首席技術(shù)官李邵川表示：“作為便攜式多媒體播放器（PMP）SoC的領(lǐng)先供應商，我們的產(chǎn)品設計廣泛應用于遍布世界各地的便攜式消費電子產(chǎn)品中。因此，我們的設計團隊需要易于使用而成熟的壓縮解決方案，可以降低我們下一代PM
- 關(guān)鍵字： DFT MAX 測量 測試 節省90％測試成本
Synopsys DFT MAX助珠海炬力節省90％測試成本
- Synopsys宣布，珠海炬力集成電路設計有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)珠海炬力）已采用Synopsys DFT MAX掃描壓縮自動(dòng)化解決方案實(shí)現其0.13微米系統級芯片(SoC)設計，使測試設備相關(guān)成本降低了90％。DFT MAX通過(guò)片上掃描數據壓縮，可顯著(zhù)減少高質(zhì)量制造測試所需的測試時(shí)間和測試數據量?！?nbsp; 珠海炬力首席技術(shù)官李邵川表示：“作為便攜式多媒體播放器（PMP）SoC的領(lǐng)先供應商，我們的產(chǎn)品設計廣泛應用于遍布世界各地的便攜式消費電子產(chǎn)品中。因此，我們的設計團隊需要易于使用而成熟的壓縮解決方案，
- 關(guān)鍵字： DFT Synopsys 測量 測試 珠海炬力 測試測量
Synopsys與聯(lián)華電子合作以低功耗和DFT功能加強90納米參考流程
- Synopsys與聯(lián)華電子合作，以低功耗和DFT功能加強90納米參考流程 針對聯(lián)華電子的90納米工藝，Synopsys的 Galaxy®設計平臺業(yè)已通過(guò)多電壓 （Multi-Vdd）功能的實(shí)戰驗證 全球電子設計自動(dòng)化軟件工具（EDA）領(lǐng)導廠(chǎng)商Synopsys（Nasdaq: SNPS）與世界半導體晶圓專(zhuān)工領(lǐng)導者臺灣聯(lián)華電子共同宣布，雙方合作以Synopsys的Galaxy™ 設計解決方案平臺為基礎，針對聯(lián)華電子的90納米工藝，在參考設計流程中增
- 關(guān)鍵字： 90納米 DFT Synopsys 參考流程 單片機 低功耗 合作 聯(lián)華電子 嵌入式系統
三洋采用DFT MAX改善測試質(zhì)量
- 三洋看重Synopsys解決方案簡(jiǎn)便易行及高可預知結果的優(yōu)勢 全球電子設計自動(dòng)化軟件工具（EDA）領(lǐng)導廠(chǎng)商Synopsys（Nasdaq: SNPS）近日宣布，領(lǐng)先的消費類(lèi)電子產(chǎn)品供應商三洋半導體公司采用Synopsys的DFT MAX掃描壓縮自動(dòng)解決方案，大大提高了其數字設計的測試質(zhì)量。憑借DFT MAX工具，三洋的工程師們將測試的數據總量降低了90％以上，實(shí)現了以更短的時(shí)間完成高質(zhì)量測試的目標。DFT MAX工具充分利用Synopsys Galaxy&
- 關(guān)鍵字： DFT MAX 測量 測試 測試質(zhì)量 三洋 測試測量
dft介紹
DFT
隨著(zhù)電子電路集成度的提高，電路愈加復雜，要完成一個(gè)電路的測試所需要的人力和時(shí)間也變得非常巨大。為了節省測試時(shí)間，除了采用先進(jìn)的測試方法外，另外一個(gè)方法就是提高設計本身的可測試性。其中，可測試性包括兩個(gè)方面：一個(gè)是可控制性，即為了能夠檢測出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加測試向量；另外一個(gè)是可觀(guān)測性，指的是對電路系統的測試結果是否容易被觀(guān)測到?！ ≡诩? [ 查看詳細 ]
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