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芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST
- 中美貿易戰持續延燒，引發(fā)后續波及全球的貿易戰爭，當中更是突顯知識產(chǎn)權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開(kāi)發(fā)內存測試與修復技術(shù)的芯測科技(iSTART-Tek，簡(jiǎn)稱(chēng)iSTART)為了協(xié)助客戶(hù)對知識產(chǎn)權領(lǐng)域規避?chē)乐厥诺娘L(fēng)險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關(guān)的系統芯片開(kāi)發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開(kāi)發(fā)工具，可協(xié)助客戶(hù)快速的開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，避免忽略?xún)却鏈y試的細節而導致產(chǎn)品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語(yǔ)音識
- 關(guān)鍵字： 芯測 EZ-BIST
直接合成方法簡(jiǎn)化串行數據接收機極限測試
- 多年來(lái)，寬同步并行總線(xiàn)一直是在數字設備之間交換數據的既定的實(shí)現技術(shù)。但是，定時(shí)問(wèn)題一直“折磨著(zhù)”較高時(shí)鐘頻率和數據速率的并行總線(xiàn)，嚴重地限制了它們滿(mǎn)足服務(wù)器和圖形系統中更高速計算結構需求的能力。在過(guò)去幾年中，串行總線(xiàn)技術(shù)的普遍實(shí)施變革了計算行業(yè)。串行總線(xiàn)只發(fā)送一條碼流，“自行獲得時(shí)鐘輸入”，從而消除了與并行技術(shù)有關(guān)的定時(shí)偏移。在串行傳輸中，同步遠不是什么問(wèn)題，解決了對整體吞吐量的結構限制。結果，串行數據速率已經(jīng)提高到1Gb/s以上，當前實(shí)現方案已經(jīng)接近3
- 關(guān)鍵字： AWG BIST 串行
沒(méi)有ATE生成向量的精密測試(04-100)
- 消費類(lèi)電子產(chǎn)品正在變得更復雜和更快速，因而使得測試成本成為問(wèn)題。大的和復雜的SoC往往是消費類(lèi)產(chǎn)品的心臟，不管它們的性能多么先進(jìn)，其成本必須是低的。 各種內裝自測試(BIST)已應用于測試DUT(被測器件)的內部性能，導致產(chǎn)品較低的生產(chǎn)成本。剩下的主要問(wèn)題是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，FibreChannel和Serial RapidIO)的全面測試。這些高速鏈路在計算、通信和音視頻娛樂(lè )前進(jìn)中是不可缺少的。 重視測試成本是一個(gè)重要的問(wèn)題，設計人員已應用BI
- 關(guān)鍵字： BIST DUT
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