安立公司將在2014年EDI CON上呈遞一系列關(guān)于高頻測試的報告

　　通信測試解決方案的全球領(lǐng)導者安立公司宣布，將在于 4 月 8 日至 10 日在中國北京北京國際會(huì )議中心舉行的 2014 年電子設計創(chuàng )新會(huì )議 (EDI CON) 上進(jìn)行一系列展示。由安立公司的代表所做的三場(chǎng)演講將解答工程師們在測定以微波及毫米波 (mm-wave) 頻率運行的器件特征時(shí)遇到的問(wèn)題。

　　高達 110 GHz 的穩定表征晶圓寬帶器件分析

　　安立公司產(chǎn)品營(yíng)銷(xiāo)經(jīng)理 Bob Buxton 將于 4 月 8 日進(jìn)行一場(chǎng)演講。該演講報告將涵蓋器件分析工程師們遇到的測試問(wèn)題，并提供可進(jìn)行 S 參數測量的解決方案——使用基于 VectorStar™ 的寬頻矢量網(wǎng)絡(luò )分析系統(頻率覆蓋范圍為 70 kHz 至 110 GHz)。 還將介紹將這種功能擴展至 145 GHz 的全新操作。

　　準光學(xué)、自由空間毫米波和 THz 范圍材料測量方面的進(jìn)展

　　由安立公司的 Jon Martens 博士與 Virginia Diodes, Inc. 的 Jeffery Hesler 和 Alex Arsenovic 提供的本報告將匯報從 100 GHz 范圍內的自由空間測量到 1 THz 準光學(xué)測量的技術(shù)。報告中將討論所有這些測量中的校準流程、需要的樣品形態(tài)以及預期可重復性水平。該演講報告計劃于 4 月 10 日進(jìn)行。

　　真實(shí)差分驅動(dòng)測量中的不確定性和穩定性

　　Martens 博士將于 4 月 10 日星期四做第二場(chǎng)演講報告，將著(zhù)重介紹差分驅動(dòng)測量。 許多高速元件的特征分析和模型開(kāi)發(fā)可能包括在真實(shí)驅動(dòng)條件下的差分回饋損耗、傳輸及模式轉換測量。因此，真實(shí)的差分驅動(dòng)通常需要處于大信號水平，其測量具有挑戰性。本演講將討論一種可以高度可靠地進(jìn)行這些測量的方法以及了解不確定性降級對盡可能減少重新校準次數和提高數據可信度的重大幫助。