引線(xiàn)式軸向塑封二極管可靠性研究與應用
朱平安 項永金 張秀鳳格力電器(合肥)有限公司,(安徽 合肥 230088)
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201910/406446.htm摘?要:結合應用中引線(xiàn)式軸向塑封二極管出現漏電及擊穿失效問(wèn)題,對引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效原因及封裝結構進(jìn)行深入剖析,經(jīng)過(guò)對大量失效引線(xiàn)式軸向塑封二極管深入分析確定失效主要原因為引線(xiàn)式軸向塑封二極管為單釘頭引線(xiàn)、大晶圓結構,本身抗機械應力能力差,引線(xiàn)、二極管本體在加工的過(guò)程中受機械應力的作用,二極管晶圓直接受到外力沖擊產(chǎn)生裂紋,呈現正向壓降不良及反向耐壓衰降,在后續的通電過(guò)程中失效進(jìn)一步加深,最終擊穿失效。經(jīng)過(guò)從各方面進(jìn)行論證對比分析,雙釘頭引線(xiàn)、小晶圓結構有很大的優(yōu)勢,開(kāi)發(fā)新型雙釘頭引線(xiàn)、小晶圓結構提高軸向塑封二極管抗機械應力能力,有效解決引線(xiàn)式軸向塑封二極管售后及過(guò)程機械應力失效問(wèn)題。
關(guān)鍵詞:二極管;機械應力;釘頭;晶圓;可靠性
0 引言
二極管又稱(chēng)晶體二極管,簡(jiǎn)稱(chēng)二極管(diode),它是一種能夠單向傳導電流的電子器件。在半導體二極管內部有一個(gè)晶圓、兩個(gè)引線(xiàn)端子、封裝材料,這種電子器件按照外加電壓的方向,具備單向電流的傳導性。二極管常用封裝材料分析常見(jiàn)有玻璃封裝,金屬封裝和塑料封裝幾種(如圖1所示)。
二極管在電器產(chǎn)品控制系統中有廣泛應用,主要應用在空調控制器主板上,二極管失效直接導致主板部分不能正常工作,嚴重影響產(chǎn)品質(zhì)量。對二極管大量失效品深入分析研究及快速解決二極管過(guò)電失效尤為重要,研究二極管失效原因及失效機理,采取有效改善預防措施,具有非常重要意義。
1 事件背景
某空調企業(yè)控制器主板生產(chǎn)過(guò)程短時(shí)間內出現大比例的某型號引線(xiàn)式軸向塑封二極管電性能失效,統計1年因為該型號引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效導致空調不能正常工作數量達到100多單,歷史數據實(shí)際應用失效該型號引線(xiàn)式軸向塑封二極管多達300單,同時(shí)售后也有30多單故障反饋。該問(wèn)題嚴重影響空調整體產(chǎn)品質(zhì)量及用戶(hù)實(shí)際體驗效果。問(wèn)題急需進(jìn)行攻克解決。
2 引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效機理
引線(xiàn)式軸向塑封二極管在生產(chǎn)成型的加工的過(guò)程中會(huì )受到各種不同方向的機械應力(如表1所示),通常受力情況如:加工過(guò)程引線(xiàn)未夾緊,在彎腳時(shí)產(chǎn)生軸向運動(dòng)的拉力,而出現損壞芯片甚至出現引腳被拉出露銅或引線(xiàn)松動(dòng)現象;因兩端引線(xiàn)彎曲,而產(chǎn)生的引線(xiàn)向內做水平擠壓運動(dòng),通??梢杂珊钙鼍彌_吸收;引線(xiàn)在打彎腳初,因彎腳模塊做90°轉向而出現的摩擦運動(dòng)會(huì )產(chǎn)生向外的拉力;彎腳成型同時(shí),若此時(shí)夾具間有異物,夾引線(xiàn)的裝置就夾不緊引線(xiàn),導致產(chǎn)品有活動(dòng)間隙,此時(shí)芯片處可能同時(shí)出現扭力、剪力、推力交互作用的狀況,產(chǎn)品在此時(shí)易受損傷失效。
3 引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效品分析
3.1 無(wú)損分析
查看失效品外管無(wú)明顯異常點(diǎn),使用二極管測試設備(測試設備型號:TVR6000)按照圖紙測試條件測試故障件電性能參數,失效品的引線(xiàn)式軸向塑封二極管故障件的VF和 VB項參數均出現失效。部分引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效品測試參數如表2所示。
DE-CAP 分析
引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效品引線(xiàn)、沾錫,印字清晰,外觀(guān)正常,經(jīng)電性測試呈現出SHORT,化學(xué)解析去除表面黑膠后結構焊接未見(jiàn)異常,去除銅腳架和焊錫后1 pcs 晶圓有裂縫、2 pcs 晶圓破裂(如表3所示)。部分二極管失效品DE-CAP分析圖片如表3所示。
從元件的失效模式看,造成二極管失效的原因為物料在加工的過(guò)程中受機械應力的作用,機械應力通過(guò)引腳、二極管本體直接作用到晶圓上,使晶圓受損橫向裂開(kāi),呈現正向壓降超標,反向耐壓衰降,在后續的通電過(guò)程中發(fā)生不良。
4 引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效整改措施
對比與失效引線(xiàn)式軸向塑封二極管同型號不同廠(chǎng)家引線(xiàn)式軸向塑二極管的抗機械應力能力參數,發(fā)現晶圓面積越大,受力面越大,抗機械應力能力較弱;雙釘頭結構引線(xiàn)的結構較單釘頭結構引線(xiàn)抗機械應力能力強。同型號不同結構二極管抗機械應力能力對比如表4所示。
通過(guò)對導致二極管出現異常的末端因素,并結合測試對比結果,落實(shí)對導致晶圓裂的相關(guān)項目落實(shí)改善控制,即需對涉及晶圓尺寸大小引線(xiàn)結構等各方面進(jìn)行優(yōu)化改善。具體改善項目如下:
?、賹⒁€(xiàn)式軸向塑封二極管內部晶圓尺寸由70 mil更改為60 mil,減少晶圓受力面積;
?、趯⒁€(xiàn)式軸向塑封二極管內部引線(xiàn)結構由單釘頭更改為雙釘頭結構,避免成型過(guò)程中引腳、二極管受到的機械應力直接沖擊晶圓,增強二極管本身的抗機械應力能力。
5 整改效果評估及應用效果驗證
通過(guò)對引線(xiàn)式軸向塑封二極管內部晶元尺寸由70mil更改為60 mil、引線(xiàn)結構由單釘頭更改為雙釘頭結構,對新制品各個(gè)實(shí)驗條件后進(jìn)行電性能參數測試均符合圖紙要求,測試數據如表5所示。
6 引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效整改總結及意義
經(jīng)過(guò)對過(guò)程及售后大量失效品分析,確定引線(xiàn)式軸向塑封二極管出現漏電及擊穿失效問(wèn)題,對引線(xiàn)式軸向塑封二極管失效原因及器件封裝結構進(jìn)行深入剖析,發(fā)現器件引線(xiàn)結構、工藝晶元大小存在嚴重質(zhì)量缺陷,經(jīng)過(guò)對大量失效引線(xiàn)式軸向塑封二極管深入分析確定失效主要原因為引線(xiàn)式軸向塑封二極管為單釘頭引線(xiàn)、大晶圓結構,本身抗機械應力能力差,引線(xiàn)、二極管本體在加工的過(guò)程中受機械應力的作用,使晶圓受損橫向裂開(kāi),呈現正向壓降不良及反向耐壓衰降,在后續的通電過(guò)程中發(fā)生不良,導致空調出現故障。
本文對二極管失效原因、失效機理、元器件結構等進(jìn)行詳細分析確定元器件結構設計存在的問(wèn)題,針對問(wèn)題逐一找到可靠有效的解決方案, 經(jīng)過(guò)從各方面進(jìn)行對比分析,調整元器件結構設計改變引線(xiàn)式軸向塑封二極管釘結構、晶圓大小,提高引線(xiàn)式軸向塑封二極管本身抗機械應力能力,整改思路從元器件結構進(jìn)行優(yōu)化升級,從而有效改善產(chǎn)品質(zhì)量,提高產(chǎn)品應用可靠性。
參考文獻
[1] 項永金. 快恢復二極管銅遷移失效機理及應用可靠性研究 [J]. 電子產(chǎn)品世界,2017 (5):
[2] 蒲曉明. 電子元器件的失效模型與可靠性試驗方法解析 [J]. 科技創(chuàng )新與應用,2016 (23);
[3] 夏遠飛,劉勇. 半導體分立器件的失效分析及預防措施 [J]. 中國測試,,2012(6):
[4] [崔海燕. 二極管在整流電路中的應用 [J]. 中小企業(yè)管理與科技(下旬刊). 2011 (12).
作者簡(jiǎn)介:
朱平安(1984—),男,助理工程師,研究方向:二極管可靠性研究
本文來(lái)源于科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2019年第11期第72頁(yè),歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用,并注明出處。
評論