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可靠性
可靠性 文章 進(jìn)入可靠性技術(shù)社區
IGBT如何進(jìn)行可靠性測試？
- 在當今的半導體市場(chǎng)，公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的，可靠性體現為在產(chǎn)品預期壽命內的長(cháng)期質(zhì)量表現。任何制造商要想維續經(jīng)營(yíng)，必須確保產(chǎn)品達到或超過(guò)基本的質(zhì)量標準和可靠性標準。安森美 (onsemi) 作為一家半導體供應商，為高要求的應用提供能在惡劣環(huán)境下運行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達到了高品質(zhì)和高可靠性。人們認識到，為實(shí)現有保證的質(zhì)量性能，最佳方式是摒棄以前的“通過(guò)測試確保質(zhì)量”方法，轉而擁抱新的“通過(guò)設計確保質(zhì)量”理念。在安森美，我們使用雙重方法來(lái)達到最終的質(zhì)量和可靠性水
- 關(guān)鍵字： IGBT 可靠性 測試
基于Microchip dsPIC33CK256MP505 高性能DSP開(kāi)發(fā)的250W微逆變電源方案
- 隨著(zhù)傳統化石能源的供應不穩定因素增加以及國家碳達峰，碳中和的要求，太陽(yáng)能、風(fēng)能等可再生能源需求急增；同時(shí)戶(hù)外運動(dòng)的不斷普及也給便攜式儲能電源的發(fā)展帶來(lái)了前所未有有機遇，另外隨著(zhù)我們經(jīng)濟不斷發(fā)展；智能家電在人民日常生活中廣泛應用，家用儲能電源也日益得到人民的重視，這些行業(yè)領(lǐng)域的應用需求推動(dòng)了逆變電源轉換的巨大發(fā)展。如何實(shí)現可靠穩定并網(wǎng)運行、降低轉換損耗、增加功率密度，降低開(kāi)發(fā)難度及開(kāi)發(fā)周期是廣大電源研發(fā)工程師的關(guān)注焦點(diǎn)。Microchip 的 Level 4 純數字電源方案，將為新能源儲能逆變這個(gè)行業(yè)提供完
- 關(guān)鍵字： Microchip 逆變電源 數字化 并網(wǎng)發(fā)電 可靠性
電視機直下式低成本背光系統研究與應用
- 直下式LED背光模組廣泛應用于液晶電視、平板燈、廣告燈箱、警示牌等領(lǐng)域。常規性能直下式LED背光技術(shù)已趨成熟，高效轉換效率光電材料和廣角光學(xué)透鏡技術(shù)尚未十分成熟，如何進(jìn)一步提高LED背光源高效光電轉換，實(shí)現背光模組同一混光距離透鏡使用數量進(jìn)一步減少達到降成本目的，開(kāi)發(fā)大發(fā)光角度透鏡提高背光模組的亮度均勻性及背光模組可靠性等問(wèn)題十分關(guān)鍵，進(jìn)行相關(guān)方法的研究具有重要意義。
- 關(guān)鍵字： 直下式背光模組 LED 光學(xué)透鏡 可靠性 202302
某航空用壓力傳感器可靠性研究
- 壓力傳感器的可靠性是考核質(zhì)量好壞的重要指標，可以綜合反應壓力傳感器的性能，可靠性的高低關(guān)系著(zhù)工作效率、經(jīng)濟效益，甚至直接影響人身安全問(wèn)題。因此，對壓力傳感器的可靠性研究顯得十分重要和非常迫切。本文通過(guò)對壓力傳感器的工作原理和工作環(huán)境的分析，以理論計算等方式，對壓力傳感器的可靠性進(jìn)行了研究。用以判斷壓力傳感器的可靠性是否達到技術(shù)要求，分析航空用壓力傳感器使用過(guò)程中的薄弱環(huán)節。從壓力傳感器設計和使用角度出發(fā)，對薄弱環(huán)節采取相應的控制措施，提高了航空用壓力傳感器的可靠性和穩定性。
- 關(guān)鍵字： 壓力傳感器 可靠性 MTBF 失效率 202211
基于高壓LED搭建的背光控制電視系統
- 摘? 要：本文引入一種應用在局部背光調節系統的新型高壓LED方案，并對其進(jìn)行了詳細講述，與傳統方案相 比，新方案無(wú)論是在可靠性、成本、還是效率方面均有不同程度的優(yōu)化，值得學(xué)習和推廣。 關(guān)鍵詞：局部背光調節；高壓LED；BUCK 橫流模塊；可靠性 隨著(zhù)消費者對液晶電視機畫(huà)質(zhì)要求的不斷提升， Local Dimming（局部背光調節）作為提升對比度的主 要技術(shù)受到了各大電視機廠(chǎng)家的青睞。眾所周知，電視 機的分區越多，Local Dimming 的效果越好，動(dòng)態(tài)對比 度越高，畫(huà)質(zhì)更佳。而在電視機上
- 關(guān)鍵字： 202210 局部背光調節 高壓LED BUCK 橫流模塊 可靠性
開(kāi)關(guān)電源芯片的失效分析與可靠性研究
- 摘要：隨著(zhù)科技的飛速發(fā)展，電器設備的使用越來(lái)越廣泛，功能也越來(lái)越強大，體積也越來(lái)越小，導致了對 電源模塊要求在不斷增加。開(kāi)關(guān)芯片在應用中失效，經(jīng)分析為電路設計本身可靠性差，導致開(kāi)關(guān)芯片失效。本 文通過(guò)增加放電與限流貼片電阻，對電路設計優(yōu)化更改，使電路工作可靠性明顯提高，滿(mǎn)足電路設計需求，改善后應用失效大幅度減低。關(guān)鍵詞：弱電端短路；過(guò)電損傷；放電電阻；限流電阻；可靠性0 引言?現代電子設備對電源模塊的工作效率、體積以及安 全要求等技術(shù)性能指標要求越來(lái)越高，開(kāi)關(guān)電源電路憑 借良好的性能在電
- 關(guān)鍵字： 202208 弱電端短路 過(guò)電損傷 放電電阻 限流電阻 可靠性
GaN是否具有可靠性？或者說(shuō)我們能否如此提問(wèn)？
- 鑒于氮化鎵 (GaN) 場(chǎng)效應晶體管 (FET) 能夠提高效率并縮小電源尺寸，其采用率正在迅速提高。但在投資這項技術(shù)之前，您可能仍然會(huì )好奇GaN是否具有可靠性。令我驚訝的是，沒(méi)有人詢(xún)問(wèn)硅是否具有可靠性。畢竟仍然有新的硅產(chǎn)品不斷問(wèn)世，電源設計人員對硅功率器件的可靠性也很關(guān)心。事實(shí)上，GaN行業(yè)已經(jīng)在可靠性方面投入了大量精力和時(shí)間。而人們對于硅可靠性方面的問(wèn)題措辭則不同，比如“這是否通過(guò)了鑒定？”盡管GaN器件也通過(guò)了硅鑒定，但電源制造商仍不相信采用硅方法可以確保GaN FET的可靠性。這是一個(gè)合理的觀(guān)點(diǎn)，因
- 關(guān)鍵字： GaN FET 電源 可靠性
基于改進(jìn)最小生成樹(shù)的配網(wǎng)線(xiàn)路優(yōu)化
- 針對配網(wǎng)規劃過(guò)程中難以考慮城市地理環(huán)境條件的快速變化等難題，提出了基于城市環(huán)境影響的配網(wǎng)線(xiàn)路優(yōu)化方法。首先，總結配電網(wǎng)可靠性規劃的步驟，分析城市配電網(wǎng)的環(huán)境約束對網(wǎng)架結構的影響；然后，利用GIS提供的城市環(huán)境等信息，考慮線(xiàn)路網(wǎng)損以及配電網(wǎng)電壓降落的要求，確定主干線(xiàn)并形成初始線(xiàn)路集；最后，根據配電網(wǎng)輻射式網(wǎng)絡(luò )的基本特征，建立啟發(fā)式規則，利用改進(jìn)的最小生成樹(shù)方法對城市配電網(wǎng)的輻射網(wǎng)進(jìn)行優(yōu)化，從而提高配電網(wǎng)供電可靠性水平。
- 關(guān)鍵字： ?配網(wǎng)優(yōu)化 可靠性 輻射式網(wǎng)絡(luò ) 最小生成樹(shù) 202201
基于供電可靠性的配電網(wǎng)規劃
- 隨著(zhù)城市建設不斷推進(jìn)，配電線(xiàn)路逐漸規?；图夯?，針對城市配電網(wǎng)線(xiàn)路輸送通道緊張等問(wèn)題，為保障供電可靠性為目標，著(zhù)重研究配電網(wǎng)的規劃方法。首先介紹計算配電網(wǎng)主干線(xiàn)可靠性方法，在一定假設條件下從平均故障時(shí)間和故障率、電量損失期望計算可靠性指標；其次，建立配電網(wǎng)可靠性規劃的數學(xué)模型，對輻射型配電網(wǎng)進(jìn)行潮流計算，以年綜合費用最低為目標規劃變電站與負荷點(diǎn)之間的連線(xiàn)，最后改進(jìn)離散二進(jìn)制粒子群算法，給出求解方案。
- 關(guān)鍵字： 配網(wǎng)規劃 可靠性 離散二進(jìn)制 粒子群算法 202112
變頻電源開(kāi)關(guān)芯片炸裂的失效分析與可靠性研究
- 隨著(zhù)科技的發(fā)展，電器設備使用越來(lái)越廣泛，功能越來(lái)越強大，體積也越來(lái)越小，對電源模塊的要求不斷增加。開(kāi)關(guān)電源具有效率高、成本低及體積小的特點(diǎn)，在電氣設備中獲得了廣泛的應用。經(jīng)分析，開(kāi)關(guān)電源電路多個(gè)器件失效主要是電路中高壓瓷片電容可靠性差，導致開(kāi)關(guān)芯片失效。本文通過(guò)增加瓷片電容材料的厚度提高其耐壓性能和其他性能，使產(chǎn)品各項性能有效提高，滿(mǎn)足電路設計需求，減少售后失效。
- 關(guān)鍵字： 開(kāi)關(guān)電源 高壓瓷片電容 芯片 耐壓提升 可靠性 202105 MOSFET
某型紅外探測器預處理電路失效分析
- 摘要：作為紅外探測系統中的基礎硬件和關(guān)鍵部件，預處理電路的性能直接影響紅外探測系統成像質(zhì)量。針對某型紅外探測器預處理電路的故障現象，建立故障樹(shù)逐步進(jìn)行失效分析，定位異常處并通過(guò)測試驗證，進(jìn)而提出糾正措施避免類(lèi)似異常的發(fā)生。經(jīng)過(guò)本次失效分析，找到了偶然事件產(chǎn)生的根源，通過(guò)采取糾正措施，降低了偶然失效發(fā)生的概率，對產(chǎn)品可靠性的提高具有顯著(zhù)實(shí)用價(jià)值。圖1 紅外探測系統功能框圖預處理電路是紅外探測系統模擬信號與數字信號的橋梁，其采集性能、圖像處理能力及輸出信號直接影響紅外探測系統成像質(zhì)量，是整體系統的關(guān)鍵部件[2
- 關(guān)鍵字： 202106 紅外探測器 預處理電路 失效分析 可靠性
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