無(wú)源RFID標簽芯片靈敏度測試方法研究
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圖4是芯片校準前實(shí)際功耗測試結果。其中，圓圈表示從標簽測試儀掃描圖像中對個(gè)別頻點(diǎn)采樣得到芯片靈敏度數值；實(shí)線(xiàn)為利用藍色圓圈表示的數值通過(guò)多項式擬合所得曲線(xiàn)。圖4所示曲線(xiàn)與圖3所示的曲線(xiàn)基本一致。
利用矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀測試芯片的反射系數Γ，使用式(1)對測得的芯片靈敏度數據進(jìn)行校準，得到圖5所示的芯片能量靈敏度曲線(xiàn)。其中，圓點(diǎn)為利用圖4中圓圈數值進(jìn)行校準之后的靈敏度值，曲線(xiàn)為利用圓點(diǎn)表示的樣本值進(jìn)行3次多項式擬合所得曲線(xiàn)，即校準之后的靈敏度曲線(xiàn)。
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