LED積分球測試系統中配置的電源對測試的影響

　　引言

　　如同大家所熟悉的手提電腦背光源，是將很多個(gè)LED燈珠組合而成，則色差問(wèn)題也越來(lái)越明顯。如果使用的LED燈珠不是同一批次的，則很容易導致波長(cháng)不一、色差等問(wèn)題，這一問(wèn)題即使是使用同一批次的LED燈珠也在所難免。對于LED芯片的測試，一般采用積分球測試系統。

　　使用積分球測量光通量等參數，可使測量結果更為可靠。積分球可降低并除去由光線(xiàn)的形狀、發(fā)散角度等差異所造成的誤差。如此高精密且謹慎的測量，也推動(dòng)著(zhù)LED積分球廠(chǎng)家越來(lái)越趨向于選擇更高性能的電源配置在該系統中，用來(lái)給待測LED供電。

　　1 LED積分球測試系統

　　LED積分球主要是測量LED燈的發(fā)光效率、顯色性及色差等表征LED發(fā)光源性能指標的參數。在產(chǎn)線(xiàn)每天大批量的測試中，時(shí)刻面臨著(zhù)兩個(gè)問(wèn)題：一是如何提高測試效率 二是測量中如何更好地保護待測LED。

　　據了解，目前電源行業(yè)內，從電源開(kāi)啟給LED燈供電到軟件控制系統采集回穩定的電壓電流數值，總時(shí)間大約為600ms，那在此基礎上是否有突破的可能性呢?答案是肯定的。那么能通過(guò)什么方法實(shí)現呢?其實(shí)系統中配置的用于給待測LED供電的電源就起著(zhù)相當重要的作用。

　　2 配置專(zhuān)業(yè)電源可抑制過(guò)沖與提高測試效率

　　一般的電源在開(kāi)機瞬間，由于環(huán)路響應時(shí)間的存在，電源輸出并非達到設定輸出電壓值即停止輸出。因此在這段時(shí)間內，電壓會(huì )出現過(guò)沖。過(guò)高的過(guò)沖電壓會(huì )對LED壽命產(chǎn)生影響，嚴重的甚至擊穿LED。

　　對于小功率的LED燈，恒流工作電流通常在幾十到幾百毫安之間。當以小電流工作時(shí)，電流和電壓爬升速度相應下降，有時(shí)將LED點(diǎn)亮的時(shí)間，甚至比從正常的給LED燈供電到軟件控制系統采集回穩定的電壓電流數值加起來(lái)所需的時(shí)間還要長(cháng)。

　　面對如上兩點(diǎn)問(wèn)題，若為了加快爬升速度，提高測試效率，采取提高環(huán)路速度的改善措施，則通常帶來(lái)更嚴重的過(guò)沖。但若為了照顧過(guò)沖的問(wèn)題，則整體測試效率又會(huì )下降。這樣的難題，能夠通過(guò)配置專(zhuān)業(yè)測試LED的電源來(lái)實(shí)現，比如艾德克斯IT6874A電源就能將這一難題迎刃而解。圖2和圖3分別是IT6874A直流電源給80V/20mA和80V/400mA的LED供電時(shí)，電壓上升階段的波形圖。