基于ISO14443A協(xié)議的RFID芯片模擬前端設計

卡向讀卡器發(fā)送數據時(shí)，系統上作出了優(yōu)化，使模擬電路的設計變得簡(jiǎn)單可靠。當發(fā)送數據1時(shí)，由線(xiàn)圈耦合過(guò)來(lái)的能量大部分由M1釋放，從而導致用于芯片正常工作的能量變少，使芯片不能正常工作，交互失敗。所以，當向外發(fā)送數據時(shí)，軟件使芯片內部嵌入的8051處理器進(jìn)入休眠模式，降低整個(gè)芯片的功耗，從而使芯片安全渡過(guò)電源不足的階段。

4 仿真與測試
圖6為仿真結果，卡與讀卡器的交互分為3個(gè)階段：
①二者無(wú)數據交互，此時(shí)卡開(kāi)始上電或者處理接收到的數據，此時(shí)電源電壓穩定；
②接收數據，線(xiàn)圈發(fā)出的上是100％的幅度調制信號，DATA_IN為解調后的數據；
③發(fā)送數據，卡產(chǎn)生的DATA_OUT是847 kHz的方波，對線(xiàn)圈上的電壓進(jìn)行負載調制，調制后線(xiàn)圈上的電壓信號是幅度調制信號，這些信號會(huì )被讀卡器耦合并解調。

在整個(gè)交互過(guò)程中電源電壓保持穩定。測試結果與仿真結果基本一致。

結語(yǔ)
本文討論了RFID芯片模擬前端的實(shí)現方法，在電源產(chǎn)生、數據收發(fā)方面采用了新技術(shù)，并且從整個(gè)系統上作了優(yōu)化，簡(jiǎn)化了模擬前端的設計，使整個(gè)系統更可靠。該芯片已通過(guò)小額支付與門(mén)禁系統的實(shí)驗室測試，其對惡劣外界干擾的抵御能力需要進(jìn)一步測試與改進(jìn)。