Synopsys DFT MAX助珠海炬力節省90％測試成本

Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys DFT MAX掃描壓縮自動(dòng)化解決方案實(shí)現其0.13微米系統級芯片(SoC)設計，使測試設備相關(guān)成本降低了90％。DFT MAX通過(guò)片上掃描數據壓縮，可顯著(zhù)減少高質(zhì)量制造測試所需的測試時(shí)間和測試數據量?！?

　　珠海炬力首席技術(shù)官李邵川表示：“作為便攜式多媒體播放器（PMP）SoC的領(lǐng)先供應商，我們的產(chǎn)品設計廣泛應用于遍布世界各地的便攜式消費電子產(chǎn)品中。因此，我們的設計團隊需要易于使用而成熟的壓縮解決方案，可以降低我們下一代PMP SoC的測試成本。DFT MAX可與Synopsys Galaxy設計平臺流程實(shí)現緊密集成，使得我們迅速將之應用于百萬(wàn)門(mén)級的設計當中。只需另加500個(gè)門(mén)，DFT MAX便可實(shí)現90％以上的壓縮率。正是基于以上考慮，我們最終決定在未來(lái)的SoC設計中采用DFT MAX?！?

　　標準的 stuck-at 測試樣本在檢測許多時(shí)間敏感性缺陷時(shí)不夠有效，因此半導體公司正在采用轉移延遲測試來(lái)發(fā)現 0.13 微米及以下工藝的缺陷。隨著(zhù)設計的復雜程度的增加，利用兩種測試方法使測試一個(gè)器件所需的測試圖形的總量劇增。樣本數   
量和每個(gè)樣本測試數據量的膨脹，增加了每個(gè)器件所需的測試時(shí)間，形成了生產(chǎn)測試瓶頸。DFT MAX可自動(dòng)執行片上壓縮，不僅可顯著(zhù)降低測試數據量和測試應用時(shí)間，同時(shí)也可將對硅片面積影響降至最低。

　　使用DFT MAX無(wú)需測試壓縮技術(shù)領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)技能。其僅適用于門(mén)唯一的適應性?huà)呙杓軜嬍乾F有解決方案中最面積有效的方案。適應性?huà)呙杓軜嫴皇褂脧碗s的順序狀態(tài)機進(jìn)行壓縮/解壓縮，可以分散整個(gè)設計的測試邏輯，從而緩解布線(xiàn)擁塞并降低硅片面積成本。DFT MAX產(chǎn)品與Synopsys Galaxy Design Platform可以實(shí)現無(wú)縫連接，對可預測結果的時(shí)間影響微乎其微。