三洋采用DFT MAX改善測試質(zhì)量
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全球電子設計自動(dòng)化軟件工具(EDA)領(lǐng)導廠(chǎng)商Synopsys(Nasdaq: SNPS)近日宣布,領(lǐng)先的消費類(lèi)電子產(chǎn)品供應商三洋半導體公司采用Synopsys的DFT MAX掃描壓縮自動(dòng)解決方案,大大提高了其數字設計的測試質(zhì)量。憑借DFT MAX工具,三洋的工程師們將測試的數據總量降低了90%以上,實(shí)現了以更短的時(shí)間完成高質(zhì)量測試的目標。DFT MAX工具充分利用Synopsys Galaxy™ 設計工具集內部的物理識別連接,幫助設計者避免成本較高的迭代測試,更快實(shí)現設計收斂。
三洋的工程師們要求靈活地生成更多的測試模式,并在必要時(shí),對大規模集成電路(LSI)進(jìn)行最高質(zhì)量的快速的測試。但他們發(fā)現,如果沒(méi)有有效的方法來(lái)壓縮數據以適應測試程序的存儲限制,提高測試質(zhì)量將導致測試數據量劇烈增加。
三洋系統解決方案事業(yè)部總經(jīng)理Hiroyuki Oike 先生表示:“我們發(fā)現,將DFT MAX工具添加到我們的Galaxy設計平臺流程中,可以滿(mǎn)足我們對高質(zhì)量目標的追求。在全面評估了DFT MAX的片上壓縮功能之后,我們決定將其應用于未來(lái)所有的LSI設計當中?!?
三洋設計人員需要的解決方案不僅要滿(mǎn)足他們對數據壓縮的需求,同時(shí)還要像傳統的測試一樣實(shí)施起來(lái)簡(jiǎn)單易行。DFT MAX不僅簡(jiǎn)便易用,同時(shí)還可以與Galaxy設計平臺中的其它流程有效實(shí)現無(wú)縫整合,這大大加快了三洋設計人員向DFT MAX遷移的速度,并在兩個(gè)LSI數字設計中將測試數據量降低了90%以上。這兩個(gè)LSI設計分別為400萬(wàn)門(mén)級的通信處理芯片和200萬(wàn)門(mén)級的數字圖像處理芯片。對于這兩種設計,DFT MAX僅需要追加0.1%和0.2%的門(mén)級用于壓縮處理。
三洋設計工程部的數字設計科長(cháng)Yuji Shiine先生表示:“我們之所以采用DFT MAX,是因為我們可以改善復雜設計的質(zhì)量,縮短測試時(shí)間,并減少測試數據量。DFT MAX可以輕松地整合到我們原有的DFT Compiler™ 流程中,遷移非常簡(jiǎn)便??傊?,我們在今后將同時(shí)應用DFT MAX及其它Galaxy解決方案中的工具,以持續改善我們產(chǎn)品的質(zhì)量和技術(shù)差異性?!?
Synopsys芯片設計解決方案部測試營(yíng)銷(xiāo)總監Graham Etchells先生認為:“三洋采用DFT MAX工具,使我們確實(shí)看到了市場(chǎng)對簡(jiǎn)便易用、快速實(shí)施并且不影響芯片物理實(shí)現的壓縮解決方案的需求,由于DFT MAX的簡(jiǎn)便易用和壓縮結果高可預知的特點(diǎn),能夠為我們的客戶(hù)立即帶來(lái)實(shí)質(zhì)性的投資回報。此外,由于DFT MAX在Galaxy工具集中具有的物理識別連接的優(yōu)勢,其在芯片的物理實(shí)現方面所產(chǎn)生的時(shí)間和空間影響微乎其微,從而實(shí)現了快速的設計收斂。比較而言,需要連續邏輯的壓縮架構則需要更多的迭代來(lái)完成時(shí)序收斂,因而延長(cháng)了整個(gè)設計周期?!?
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