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半導體?測試?系統?
半導體?測試?系統? 文章 進(jìn)入半導體?測試?系統?技術(shù)社區
線(xiàn)卡的環(huán)路測試
- 在制造電信線(xiàn)路卡時(shí),必須保證它們符合各種標準,必須使每一線(xiàn)卡的接收器經(jīng)受抖動(dòng)和低功率信號的考驗,其發(fā)送器必須能夠提供足夠的功率以最小的抖動(dòng)實(shí)現跨長(cháng)距離傳送,同時(shí)還必須對該線(xiàn)卡是否正確復用和解復用數據流進(jìn)行測試。表1是電信線(xiàn)路卡主要測試一覽表。進(jìn)行線(xiàn)卡測試時(shí),必須把線(xiàn)卡安裝到模擬電信網(wǎng)絡(luò )的測試臺中。圖1示出利用回送信號進(jìn)行線(xiàn)卡測試的典型測試過(guò)程。借助回送法,通過(guò)由電信測試裝置產(chǎn)生的光測試信號對線(xiàn)卡的接收器進(jìn)行測試。線(xiàn)卡的接收器把光信號轉換成電信號,并將它沿背板回送給另一線(xiàn)卡,將測試信號環(huán)回到測試裝置。接收器
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全國電子測試工程系統學(xué)術(shù)報告會(huì )召開(kāi)
- 由中國電子學(xué)會(huì )測試與儀器分會(huì )、中國計量測試學(xué)會(huì )國外儀器技術(shù)專(zhuān)業(yè)委員會(huì )和電子計量專(zhuān)業(yè)委員會(huì )聯(lián)合組織的“2002年全國計量、儀器、測控工程系統學(xué)術(shù)報告會(huì )”10月中旬在武夷山舉行。來(lái)自全國儀器儀表、測量測試行業(yè)、大學(xué)及產(chǎn)業(yè)界的100多名專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員參加了大會(huì )。第二炮兵工程學(xué)院教授、工程院院士黃先祥先生到會(huì )并講話(huà)。哈爾濱工業(yè)大學(xué)孫圣和教授介紹了儀器儀表及測試測量技術(shù),從模擬到數字,再到標準化模塊的發(fā)展趨勢及現狀。
- 關(guān)鍵字: 測試 測試測量
2002年11月13日,Xilinx公司在深圳設立辦事處
- 2002年11月13日,領(lǐng)先的可編程邏輯器件(PLD)供應商賽靈思公司(Xilinx)宣布,在深圳成立新的辦事處,以更好地滿(mǎn)足中國市場(chǎng)對其PLD產(chǎn)品的需求。 由于PLD新興應用領(lǐng)域的迅速拓展、中國本土新興企業(yè)的增多、跨國公司研發(fā)機構向中國的轉移以及來(lái)自傳統客戶(hù)的穩定營(yíng)收,中國已經(jīng)成為Xilinx公司最重要的新興市場(chǎng)。“為滿(mǎn)足現有的PLD應用以及非傳統PLD應用的需要,也為了更好地為我們現有及潛在客戶(hù)提供服務(wù),Xilinx公司在深圳市開(kāi)設了辦事處。” Xilinx公司總裁兼
- 關(guān)鍵字: Xilinx 半導體 ASIC
測試技術(shù)發(fā)展趨勢
- IC測試、通信測試、網(wǎng)絡(luò )測試和虛擬儀器的發(fā)展已出現一些新的勢態(tài)。 降低測試成本成為發(fā)展IC測試的首要目標 對體積更小、功能更強的芯片的需求正推動(dòng)IC產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,同時(shí)也推動(dòng)著(zhù)IC設計和測試的發(fā)展。對于系統芯片(SOC)的測試,其成本已幾乎占芯片成本的一半。根據英特爾公司副總裁提出的測試摩爾定律,未來(lái)幾年,每一晶體管的硅投資成本將低于其測試成本。 因此未來(lái)IC測試設備制造商面臨的最大挑戰是如何降低測試成本。 過(guò)去的集成電
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半導體?測試?系統?介紹
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