LED芯片壽命 試驗方法 作者： 時(shí)間：2011-12-08 來(lái)源：網(wǎng)絡(luò ) 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢(xún) 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> bsp; ●具有微電腦定時(shí)控制功能，可自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉； ●可同時(shí)適用不同VF的LED，而不必另外調整； ●采用單元組合結構，可隨時(shí)增加壽命試驗單元，實(shí)現在線(xiàn)操作； ●采用低壓供電，保障安全性能。 上一頁(yè) 1 2 下一頁(yè)
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