AMD自適應計算技術(shù)助力電裝下一代激光雷達系統,實(shí)現 20 倍分辨率提升

—電裝平臺采用的 AMD 賽靈思車(chē)規級 Zynq UltraScale+ MPSoC 能提供當今市場(chǎng)上所有 

—SPAD 激光雷達系統中領(lǐng)先的點(diǎn)云密度

AMD近日宣布其自適應計算技術(shù)正為領(lǐng)先的零部件供應商株式會(huì )社電裝（DENSO，以下簡(jiǎn)稱(chēng)電裝）的下一代激光雷達（ LiDAR ）平臺提供支持。該款新平臺將以極低時(shí)延實(shí)現超過(guò) 20 倍的分辨率提升，從而提高在行人、車(chē)輛、可行駛區域等方面的檢測精度。該電裝激光雷達平臺計劃于 2025 年開(kāi)始出貨，將采用 AMD 賽靈思車(chē)規級（ XA）Zynq? UltraScale+? 自適應 SoC 及其功能安全開(kāi)發(fā)工具套件，以達到 ISO 26262 ASIL-B 認證。

電裝正將 AMD XA Zynq UltraScale+ 多處理器片上系統（ MPSoC ）平臺用于其單光子雪崩二極管（ SPAD ）激光雷達系統，該系統可生成現今市面上所有激光雷達系統中領(lǐng)先的點(diǎn)云密度水平。點(diǎn)云密度反映了給定區域內的激光腳點(diǎn)數量，類(lèi)似于圖像分辨率，其中更豐富的數據可確保捕捉關(guān)鍵的決策細節。一般而言，由于可以節省空間，基于 SPAD 的系統正為汽車(chē)制造商廣泛采用。高度靈活應變的車(chē)規級 Zynq UltraScale+ MPSoC 使電裝的激光雷達系統得以縮小當前激光雷達實(shí)現方案的尺寸，進(jìn)而允許多個(gè)激光雷達協(xié)同工作，以獲得車(chē)輛的正視圖和側視圖。一片器件可用于多個(gè)電裝激光雷達系統，包括后代系統，既降低了系統成本，也能助力為未來(lái)設計做好準備。

目前在產(chǎn)的車(chē)輛可能只裝備了一個(gè)前視激光雷達，而下一代車(chē)輛卻會(huì )裝備多個(gè)系統，包括前視、后視和側視激光雷達。要想超越輔助駕駛實(shí)現完全自動(dòng)駕駛，就需要另外的系統。此外，電裝激光雷達還可用于基礎設施監控、工廠(chǎng)自動(dòng)化和其他非自動(dòng)駕駛應用。

株式會(huì )社電裝傳感系統事業(yè)部主管 Eiichi Kurokawa 表示：“在我們推出下一代激光雷達系統之際，我們很高興能夠擴大與 AMD 的合作。AMD 高性能、高度可擴展、可編程的芯片提供了獨特優(yōu)勢，能滿(mǎn)足我們的激光雷達架構極為復雜的圖像處理要求。正是 Zynq UltraScale+ MPSoC 平臺的靈活性與功能性以及其能應對嚴苛的功能安全要求，促使我們與 AMD 攜手合作?！?/p>

電裝的 SPAD 激光雷達系統能以每秒 10 幀的幀率，每秒生成超過(guò) 300 萬(wàn)個(gè)點(diǎn)。這款中距激光雷達系統運用車(chē)規級 Zynq UltraScale+ MPSoC 實(shí)現系統監控功能，用以幫助確保溫度與整體系統正常運行。由于該系統采用時(shí)間數字轉換（ time-to-digital conversion）而非模數轉換器，因此不僅可以?xún)?yōu)化整體系統尺寸與成本，還能提供高性能、高密度數據。

AMD 高級副總裁兼核心市場(chǎng)事業(yè)部總經(jīng)理 Mark Wadlington 表示：“電裝打造了一款非常精確的激光雷達系統。隨著(zhù)激光雷達持續演進(jìn)，新的技術(shù)需求隨之而來(lái)，進(jìn)而帶動(dòng)了對更高靈敏度、密度與性能的需求。借助 AMD 自適應計算技術(shù)，我們正助力縮小系統尺寸與占用空間，同時(shí)通過(guò)提高分辨率改善目標檢測精度，而所有這些均以極低時(shí)延實(shí)現?！?/p>

AMD在汽車(chē)領(lǐng)域

隨著(zhù)汽車(chē)產(chǎn)業(yè)創(chuàng )新步伐不斷加快，對高性能算力、計算加速和圖形技術(shù)的需求也在走強。憑借業(yè)界豐富的高性能 CPU、GPU、FPGA 和自適應 SoC 產(chǎn)品線(xiàn)，AMD 正處于這一轉折點(diǎn)的最前沿。從車(chē)載信息娛樂(lè )系統到高級駕駛輔助系統、自動(dòng)駕駛和車(chē)聯(lián)網(wǎng)應用等功能安全關(guān)鍵型應用，AMD 能為汽車(chē)制造商提供芯片和軟件解決方案一站式服務(wù)。

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所有性能和節省成本的聲明均由電裝提供，沒(méi)有經(jīng)過(guò) AMD 的獨立驗證。性能和成本效益受到各種變量的影響。這里的結果特定于電裝，不具有代表性。GD-181