吉時(shí)利為改良的脈沖測試發(fā)布新版測試軟件

針對不斷增長(cháng)的測量需求提供解決方案的行業(yè)領(lǐng)袖吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司(NYSE:KEI)，日前發(fā)布6.1版交互式KTEI，暨功能強大的KTEI（吉時(shí)利交互式測試環(huán)境）測量軟件之最新版本，適用于4200-SCS半導體特性分析系統。新版KTEI 6.1軟件增強了吉時(shí)利4200-PIV的脈沖I-V能力并顯著(zhù)改進(jìn)脈沖和DC測量的相關(guān)性。

脈沖測試正成為日益重要的新特性分析技術(shù)。高速脈沖避免了自加熱效應可能造成的損壞并應用于新半導體材料和器件的特性分析，例如高k柵層疊特性分析中的電荷俘獲。吉時(shí)利4200-PIV包將4200-SCS的能力擴展至包含脈沖發(fā)生和分析的領(lǐng)域，適用于材料和器件特性分析。

此外，KTEI V6.1集成了用于吉時(shí)利3400脈沖發(fā)生器的驅動(dòng)程序，該驅動(dòng)程序使吉時(shí)利4200-SCS能無(wú)縫集成3400脈沖發(fā)生器到測試環(huán)境中實(shí)現多種脈沖功能。KTEI V6.1為易用、可現場(chǎng)安裝的軟件升級。

本次最新發(fā)布的KTEI軟件實(shí)踐了吉時(shí)利的一貫承諾，即不斷改進(jìn)其功能強大的測量工具并提供只需極低成本的升級和遷移路徑。該優(yōu)勢并非測試業(yè)界所有公司皆都提供。吉時(shí)利尤其注重用戶(hù)投資保護，旨在幫助用戶(hù)簡(jiǎn)單升級所需軟件或硬件而非每隔幾年就購買(mǎi)一套完整的新硬件裝置。