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新版測試軟件
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吉時(shí)利為改良的脈沖測試發(fā)布新版測試軟件
- 針對不斷增長(cháng)的測量需求提供解決方案的行業(yè)領(lǐng)袖吉時(shí)利 (Keithley) 儀器公司(NYSE:KEI),日前發(fā)布6.1版交互式KTEI,暨功能強大的KTEI(吉時(shí)利交互式測試環(huán)境)測量軟件之最新版本,適用于4200-SCS半導體特性分析系統。新版KTEI 6.1軟件增強了吉時(shí)利4200-PIV的脈沖I-V能力并顯著(zhù)改進(jìn)脈沖和DC測量的相關(guān)性。 脈沖測試正成為日益重要的新特性分析技術(shù)。高速脈沖避免了自加熱效應可能造成的損壞并應用于新半導體材料和器件的特性分析,例如高k柵層疊特性
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