Open-Silicon通過(guò)Mentor的Tessent Cell-Aware Test改進(jìn)測試品質(zhì)

　　Mentor Graphics公司(納斯達克代碼：MENT)日前宣布，專(zhuān)用集成電路(ASIC)設計公司Open-Silicon采用帶Cell-Aware Test的Tessent^® TestKompress^®產(chǎn)品，改進(jìn)了片上系統設計的測試品質(zhì)。使用Tessent TestKompress產(chǎn)品以后，Open-Silicon成功檢測出并解決了以前使用傳統方法檢測不到的缺陷。Open-Silicon還部署Tessent MemoryBIST產(chǎn)品，對嵌入式存儲器進(jìn)行全速測試、診斷和維修。

　　“隨著(zhù)客戶(hù)轉至更小制程節點(diǎn)和更大片上系統設計，檢測細微缺陷的挑戰愈加復雜，”Open-Silicon工程副總裁Taher Madraswala說(shuō)。“為滿(mǎn)足非常低DPM的需求，我們需要不僅能檢測標準單元邊界上的缺陷，還能捕獲單元內缺陷的測試。Tessent Cell-Aware Test解決方案給我們提供了這樣的能力，同時(shí)又不會(huì )大幅提高測試成本。

　　Cell-Aware Test是一種晶體管級測試方法學(xué)，通過(guò)僅針對各標準單元內部的特定短路、開(kāi)路及晶體管缺陷，從而克服了傳統固定和過(guò)渡故障模型及相關(guān)測試模式的限制，由此，大幅降低了缺陷(DPM)水平。

　　Open-Silicon為客戶(hù)提供經(jīng)充分測試的部件，而Mentor^® Cell-Aware Test的功能及Tessent MemoryBIST解決方案增強了他們向客戶(hù)提供更可靠芯片的能力。Open-Silicon使用Tessent TestKompress Cell-Aware Test功能檢測到了使用傳統硅片測試方法所未檢測到的單元內缺陷，從而成功降低了其每百萬(wàn)缺陷部件數(DPM)。他們計劃部署該解決方案，以滿(mǎn)足對DPM敏感的客戶(hù)的需求。

　　“Cell-Aware Test給像Open-Silicon一樣需要降低DPM水平的公司帶來(lái)了價(jià)值，”Mentor Graphics產(chǎn)品營(yíng)銷(xiāo)總監Steve Pateras說(shuō)。“我們在不斷增強我們的Tessent DFT解決方案，以實(shí)現最高的測試品質(zhì)，同時(shí)也在縮減開(kāi)發(fā)精力和生產(chǎn)測試成本。”