低成本蜂窩接入點(diǎn)TD-LTE微微蜂窩基站測試

1 引言
　　
　　微微蜂窩類(lèi)似家庭基站（Home NodeB），是一種小型、低成本的蜂窩接入點(diǎn)，主要用于改善個(gè)人住所和小型企業(yè)建筑內的網(wǎng)絡(luò )覆蓋。通常，它通過(guò)類(lèi)似于DSL或有線(xiàn)寬帶的方式與運營(yíng)商的核心網(wǎng)絡(luò )直接相連；它的運行方式與基站基本相同，只不過(guò)其功率水平要比一般基站低一些，并且對其射頻性能也可以略微降低。
　　
　　目前，我國將全面邁向3G時(shí)代。3G時(shí)代的全面來(lái)臨，為其后續LTE技術(shù)的市場(chǎng)提供了豐富的想像空間。而作為L(cháng)TE技術(shù)的時(shí)分模式TD-LTE，因其全面兼容TD-SCDMA以及能夠為T(mén)D-SCDMA技術(shù)提供非常平滑的技術(shù)過(guò)度，引起我國通信廠(chǎng)商的廣泛關(guān)注。作為改善最后一級覆蓋的超微蜂窩與TD-LTE的結合，無(wú)疑將大大提高TD-LTE在個(gè)人住所和小型企業(yè)建筑內的覆蓋，從而擁有更多可分配給客戶(hù)的物理資源，大大改善用戶(hù)的客戶(hù)體驗。
　　
　　2 TD-LTE的幀結構
　　
　　在UMTS的長(cháng)期演進(jìn)（LTE）中，分為頻分（FDD）和時(shí)分（TDD）兩種模式。TD-LTE即為其時(shí)分模式，又叫LTE-TDD；其在高層協(xié)議上與FDD完全一致，在幀結構上則充分考慮和繼承了TD-SCDMA的設計思想，除了在特殊子幀處與FDD模式稍有不同外，其他子幀也保持了與FDD模式良好的兼容性。
　　
　　在LTE中的兩種幀結構中，FDD使用Type 1，TDD則使用Type 2。對于TD-LTE使用的Type2幀結構，與TD-SCDMA有很多類(lèi)似，它把10ms的無(wú)線(xiàn)幀分成兩個(gè)5ms的半幀；每個(gè)半幀由5個(gè)1ms的子幀組成，包括1個(gè)特殊子幀和4個(gè)普通子幀。對于特殊子幀是由3個(gè)特殊時(shí)隙組成：DwPTS，GP和UpPTS；DwPTS是下行導頻時(shí)隙，UpPTS則是上行導頻時(shí)隙，GP則用于下行到上行之間的保護間隔。普通子幀則與FDD模式一樣，用來(lái)傳輸數據信息。
　　
　　不同于LTE-FDD（依靠頻率區分上下行），LTE-TDD則是在同一個(gè)頻率上，依靠時(shí)間即不同的時(shí)隙來(lái)區分上下行，因而可以方便地通過(guò)調整上下行時(shí)隙配比來(lái)滿(mǎn)足現實(shí)網(wǎng)絡(luò )中諸多非對稱(chēng)業(yè)務(wù)的需求。在規范中定義了7種不同的上下行配比關(guān)系，從對下行支持較多的9：1到對上行支持較多的2：3，用戶(hù)可以根據需求選擇，從而實(shí)現對下載或上傳業(yè)務(wù)的良好支持。
　　
　　3 TD-LTE微微蜂窩測試
　　
　　LTE技術(shù)（TDD和FDD）使用了與CDMA（主要應用于第三代移動(dòng)通信）的碼分多址接入技術(shù)完全不同的空中接口，其在下行采用OFDMA（正交頻分復用多址接入）技術(shù)，在上行則使用峰均比優(yōu)化的SC-FDMA（單載波頻分多址接入）技術(shù)，給LTE設備的測試帶來(lái)巨大的挑戰。圖1是使用羅德與施瓦茨公司的矢量信號源SMU200A和矢量信號分析儀FSQ，依照規范TS36.141進(jìn)行TD-LTE微微蜂窩基站的射頻測試的框圖。

　　
　　圖1 使用RS公司的SMU和FSQ測試微微蜂窩示意圖
　　
　　目前，由于LTE技術(shù)還在發(fā)展中，其相應的技術(shù)規范還沒(méi)有完全凍結。在TS 36.141 V 8.2.0版本中，關(guān)于基站發(fā)射機的測試已經(jīng)定義了如功率、發(fā)射信號質(zhì)量（包括頻率誤差，矢量幅度誤差EVM，不同天線(xiàn)間的時(shí)間對比關(guān)系，下行參考功率等）、頻譜（包括占用帶寬OBW，鄰信道泄露比ACLR以及雜散等）和發(fā)射機互調。使用RS的FSQ可以測試以上全部指標，此外還可以測試每個(gè)載波和每個(gè)子幀上的EVM，功率時(shí)間模板，頻率平坦度，星座圖，CCDF以及比特流等；這些測試功能進(jìn)一步拓展了研發(fā)人員的測試廣度和深度，加速了研發(fā)的進(jìn)度。 Script type=text/javascript>function ImgZoom(Id)//重新設置圖片大小 防止撐破表格 { var w = $(Id).width; var m = 650; if(w m){return;} else{ var h = $(Id).height; $(Id).height = parseInt(h*m/w); $(Id).width = m; } } window.onload = function() { var Imgs = $(content).getElementsByTagName(img); var i=0; for(;i

對于LTE的發(fā)射機測試，與傳統模式測試最大的不同在于其需要支持MIMO技術(shù)，與其相關(guān)的上述測試項就有不同天線(xiàn)間的時(shí)間對比關(guān)系測試項；其原理即為測試兩個(gè)或多個(gè)天線(xiàn)間，在正常工作的狀態(tài)下，其各自發(fā)射信號間的時(shí)間誤差。使用RS的矢量信號分析儀FSQ (或FSV)，一臺儀表就可以實(shí)現該項測試（測試結果參見(jiàn)表1）；不僅如此，還可以測試每個(gè)天線(xiàn)各自的信號質(zhì)量等。測試時(shí)，只需把基站的兩個(gè)天線(xiàn)通過(guò)合路器鏈接到FSQ的射頻口，通過(guò)FSQ內部的功能鍵選擇得到相應的測試結果。

　　
　　TD-LTE的接收機和性能測試，矢量信號源產(chǎn)生相應的上行信號（SC-FDMA），通過(guò)單端接收機測試的方式來(lái)驗證基站的接收情況。所謂單端即基站已知信號源所發(fā)的信號序列，在其接收解調后，自己做對比并計算出測試結果BER/BLER。對應的測試規范中定義了以下測試項：
　　
　?。?）參考靈敏度。
　　
　?。?）動(dòng)態(tài)范圍。
　　
　?。?）帶內選擇性。
　　
　?。?）鄰信道選擇性和窄帶阻塞。
　　
　?。?）阻塞。
　　
　?。?）接收機雜散。
　　
　?。?）接收互調等。
　　
　?。?）HARQ重傳和多徑衰落情況下性能測試。
　　
　?。?）HARQ重傳情況下上行定時(shí)調整性能測試。
　　
　　接收機雜散可以用頻譜儀來(lái)測試，以上其它測試可以使用雙通道矢量信號源SMU200A來(lái)實(shí)現，SMU200A可配置為雙通道，一個(gè)通道產(chǎn)生上行TDD LTE信號，另一通道產(chǎn)生規范要求的干擾信號，這些干擾信號可以是單音，也可以是不同標準的矢量調制信號，可以對每個(gè)通道獨立地加衰落和AWGN噪聲。在性能測試中，SMU200A可以根據基站的反饋信號來(lái)實(shí)時(shí)進(jìn)行上行信號重傳，這是任意波形發(fā)生器所不能實(shí)現的。
　　
　　另外，MIMO（多入多出）技術(shù)是LTE不可缺少的組成部分，LTE的高速率實(shí)現缺少不了MIMO技術(shù)的支持，因此需要使用相應的MIMO信號來(lái)測試基站接收機性能。這時(shí)，同樣可以利用雙通道SMU200A內置的4個(gè)衰落模塊，來(lái)測試2×2的MIMO，具體參見(jiàn)圖2。

　　
　　圖2 SMU產(chǎn)生2×2 MIMO測試信號
　　
　　4 結束語(yǔ)
　　
　　目前，有關(guān)LTE的技術(shù)規范雖然已經(jīng)大部分凍結，但是還有一些指標在不斷地變化、發(fā)展中，對測試人員來(lái)說(shuō)，則就需要使用能夠緊跟規范的設備來(lái)測試其LTE產(chǎn)品，保持產(chǎn)品的領(lǐng)先性。羅德與施瓦茨公司與3GPP的關(guān)系非常密切，并是其成員之一，始終緊跟LTE的發(fā)展，推出相應的測試功能，全力支持了我國TD-SCDMA向TD-TLE的演進(jìn)。