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基于分層測試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測試新方法
- 以基于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)的現場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)為例，在傳統的三次測試方法的基礎上提出了一種新穎的針對FPGA互聯(lián)資源的測試方法。該方法運用了層次化的思想，根據開(kāi)關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(diǎn)(PIP)兩端連線(xiàn)資源的區別將互聯(lián)資源進(jìn)行層次化分類(lèi)，使得以這種方式劃分的不同類(lèi)別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進(jìn)行疊加測試，這就從根本上減少了實(shí)際需要的測試配置圖形和最小配置次數。
- 關(guān)鍵字： 互聯(lián)資源 分層測試 FPGA
基于FPGA的超級電容充放電控制
- 由于超級電容器單體性能參數的離散性，當多個(gè)單體串聯(lián)組成電容器組時(shí)，在充放電過(guò)程中容易造成過(guò)充或過(guò)放現象，嚴重危害超級電容器的使用壽命。文中提出以FPGA為檢測、控制單元，對電容進(jìn)行有效地充放電控制，防止過(guò)充或過(guò)放，提高超級電容器的循環(huán)使用次數，降低不必要的能量消耗。
- 關(guān)鍵字： 超級電容 串聯(lián)均壓 FPGA
FPGA設計開(kāi)發(fā)軟件Quartus II的使用技巧之： 典型實(shí)例-SignalTap II功能演示
- 本節旨在通過(guò)給定的工程實(shí)例——“正弦波發(fā)生器”來(lái)熟悉Altera Quartus II高級調試功能SignalTap II和Intent Memory Content Editor的使用方法。同時(shí)使用基于A(yíng)ltera FPGA的開(kāi)發(fā)板將該實(shí)例進(jìn)行下載驗證，完成工程設計的硬件實(shí)現。在本節中，將主要講解下面知識點(diǎn)。
- 關(guān)鍵字： QuartusII SignalTapII FPGA
xilinx fpga介紹
Xilinx FPGA
Xilinx FPGA主要分為兩大類(lèi)，一種側重低成本應用，容量中等，性能可以滿(mǎn)足一般的邏輯設計要求，如Spartan系列；還有一種側重于高性能應用，容量大，性能能滿(mǎn)足各類(lèi)高端應用，如Virtex系列，用戶(hù)可以根據自己實(shí)際應用要求進(jìn)行選擇。 在性能可以滿(mǎn)足的情況下，優(yōu)先選擇低成本器件。
Xilinx FPGA可編程邏輯解決方案縮短了電子設備制造商開(kāi)發(fā)產(chǎn)品的時(shí)間 [ 查看詳細 ]
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