吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導體特征分析系統KTEI V7.1升級版

　　吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前發(fā)布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統推出了KTEI（吉時(shí)利交互式測試環(huán)境）V7.1版。經(jīng)過(guò)此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場(chǎng)上最完整的半導體特征分析儀，大大降低了一些復雜測量的難度，并且通過(guò)保護用戶(hù)的固定資產(chǎn)投資降低了用戶(hù)的測試成本。

　　KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴寬了4200-CVU（電容-電壓?jiǎn)卧┑墓δ埽?包括對高達200VDC（即400V差分電壓）和300mA更高功率半導體器件的特征分析提供了軟件支持。這一功能對于從事LDMOS（橫向擴散MOS）器件以及用于汽車(chē)、顯示器、MEMS和其他高功率應用的較高功率半導體器件研究與開(kāi)發(fā)的工程技術(shù)人員是非常有用的。KTEI V7.1還為下列新功能增加了軟件支持：

　　•差分直流偏壓
　　•準靜態(tài)C-V測試
　　•擴展的器件測試庫
　　•為加速和簡(jiǎn)化測試而推出的各種軟件增強功能

支持更高功率的測試

　　新的4200-CVU-PWR C-V電源包硬件選件配合KTEI V7.1中的C-V軟件工具一起使用，能夠對高達200VDC電壓（即400VDC差分電壓）和300mA電流的高功率器件進(jìn)行C-V測試。這種C-V測試可用于汽車(chē)電子器件、MEMS、LDMOS、顯示器和其他較高功率器件的設計、測試與建模。利用吉時(shí)利的4200-CVU-PWR C-V電源包，4200-SCS特征分析儀能夠在一個(gè)系統內支持更高功率的C-V、脈沖I-V（電流-電壓）和直流I-V測試應用。

　　此次升級的另外一項重要功能是采用了差分直流偏壓。4200-CVU集成的C-V測試儀對稱(chēng)電路升級了flash存儲器，能夠在C-V HI和C-V LO端口上施加高達60V的差分直流偏壓。吉時(shí)利是第一個(gè)實(shí)現這一獨特功能的參數分析儀廠(chǎng)商，利用這一功能能夠對待測器件的電場(chǎng)進(jìn)行更靈活的控制。這一功能尤其對于納米元件等特殊器件的器件建模十分有用。4200-CVU固件升級包含在KTEI V7.1內部，因此用戶(hù)不需要將設備返送回廠(chǎng)家進(jìn)行重編程。

　　此次軟件升級支持最新的準靜態(tài)C-V測量技術(shù)——Ramp Rate方法，其中采用了4200-SCS現有的SMU和前置放大器。準靜態(tài)C-V技術(shù)非常適合于低功耗CMOS器件、高k介質(zhì)器件、顯示器件和其他低泄漏器件的特征分析。

不斷增強系統功能確保始終如一的生產(chǎn)效率

　　吉時(shí)利的4200-SCS系統以一個(gè)緊密集成的特征分析方案取代了多種分離的電子測試工具，是多種應用的理想選擇，包括半導體技術(shù)研究、工藝開(kāi)發(fā)、可靠性實(shí)驗室/材料與器件研究實(shí)驗室和機構的材料研究，也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場(chǎng)合。自從4200-SCS系統推出以來(lái)，吉時(shí)利就在不斷增強其硬件和軟件功能。這種不間斷的系統更新服務(wù)為用戶(hù)提供了一條高性?xún)r(jià)比的升級之路，用戶(hù)不必因為其原來(lái)的設備過(guò)時(shí)而被迫購買(mǎi)新的參數分析儀。系統通過(guò)高性?xún)r(jià)比的升級服務(wù)能夠跟上業(yè)界不斷發(fā)展的測試需求，因此相比其他同類(lèi)測試方案，對4200-SCS的資本投資能夠保持更長(cháng)的時(shí)間。

價(jià)格與供貨

　　KTEI V7.1對于現有的4200-SCS系統是可以立即免費升級的，用戶(hù)聯(lián)系吉時(shí)利的銷(xiāo)售工程師即可預訂。4200-CVU-PWR C-V電源包同樣有現貨供應，可以作為備選附件進(jìn)行訂購。