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吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導體特征分析系統KTEI V7.1升級版
- 吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前發(fā)布最近針對其屢獲殊榮的4200-SCS半導體特征分析系統推出了KTEI（吉時(shí)利交互式測試環(huán)境）V7.1版。經(jīng)過(guò)此次軟件升級之后，KTEI支持更高功率半導體器件的測試。這樣，4200-SCS就支持從低到高各種功率水平的器件的特征分析，從而成為市場(chǎng)上最完整的半導體特征分析儀，大大降低了一些復雜測量的難度，并且通過(guò)保護用戶(hù)的固定資產(chǎn)投資降低了用戶(hù)的測試成本。 KTEI V7.1的此次升級融合了多種新特征和新功能，擴寬了4200-CVU（電容-電壓?jiǎn)卧┑墓δ埽?/li>
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 Keithley 半導體 KTEI
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