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吉時(shí)利發(fā)布2600系列SourceMeter® 數字源表2635和2636

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作者: 時(shí)間:2007-09-18 來(lái)源:EEPW 收藏
儀器公司發(fā)布了其2600系列SourceMeter® 的兩款新產(chǎn)品2635和2636,自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費比最高的半導體參數分析與解決方案。2635和2636采用最新特殊參數分析技術(shù),實(shí)現了高達1fa(10-15安)的分辨率,從而滿(mǎn)足了很多半導體、光電和納米器件的需求。此外,其基于儀器的多通道架構相比普通的基于主機的源方案降低了50%的成本。通過(guò)其腳本處理器(TSP™)和TSP-Link™互連通信總線(xiàn),測試工程師可利用2636和2635快速構建用于技術(shù)研究、特征分析、圓片分揀、可靠性測試、生產(chǎn)監測等多種測試應用場(chǎng)合的高速測試系統。

2635和2636能夠實(shí)現從飛安和微伏量級到200V/1.5A范圍的高效費比直流和脈沖測試。它們可以配合PC機或獨立工作,測試速度比普通基于主機的源方案快四倍。此外,每種儀器內置一個(gè)類(lèi)似于PC的微處理器,支持各種簡(jiǎn)單或復雜的測試程序(腳本)的編程與獨立執行,包括提供信號源、測量、測試序列流程控制以及帶條件程序分支的判斷操作等。2635和2636極易與其他儀器集成構成自動(dòng)測試系統,因此對于從事圓片級測試和封裝器件測試工作的元件制造商和半導體廠(chǎng)商都極具吸引力。同時(shí),對于需要快速、方便地進(jìn)行器件與材料I-V特征分析的各領(lǐng)域研究人員和學(xué)者而言,其低成本優(yōu)勢十分誘人。

最廉價(jià)的易擴展性

對于較小和中等引腳個(gè)數的器件,或者多器件和材料樣本的測試,2635和2636能夠大大降低用戶(hù)的測試成本。它們將五種精密測量?jì)x器的功能集于一身:SMU(源測量單元)、DMM(數字萬(wàn)用表)、偏壓源、低頻脈沖發(fā)生器和任意波形發(fā)生器。所有功能都受控于TSP,從而支持在儀器內下載與執行完全可編程的測試序列。這在增大測試產(chǎn)能的同時(shí)降低了通信與PC開(kāi)銷(xiāo),完全具備滿(mǎn)足不同測試環(huán)境需求的控制靈活性。

除了支持TSP功能外,的TSP-Link主/從連接功能還提供了一種高速、低延遲的接口,以便和其他基于TSP的儀器相互連接,實(shí)現簡(jiǎn)單的單臺和多臺儀器軟件控制架構。2600系列測試系統一個(gè)主要優(yōu)勢在于能夠根據當前和今后的測試需求為用戶(hù)提供方便的可擴展性。在無(wú)需主機的情況下,多個(gè)單通道(2635)單元和雙通道(2636)單元實(shí)現無(wú)縫集成。該種無(wú)需主機的擴展性能夠實(shí)現每GPIB地址32個(gè)通道的系統規模,同時(shí)將新增通道所需的成本、機架空間和時(shí)間降至最低限度。通過(guò)選用2600系列產(chǎn)品,用戶(hù)可以利用兩到三個(gè)經(jīng)過(guò)標準校驗的SMU模型對多種應用領(lǐng)域的10A脈沖或者3A直流電流進(jìn)行測試。用戶(hù)只需修改SMU執行的測試腳本,就可重新定位SMU功能。

更短的測試時(shí)間

所有基于TSP功能的系統皆能存儲并執行大量預定義的器件測試腳本,包括界限比較、PASS/FAIL判斷、元件分揀等。無(wú)論是否有PC機的配合,都能夠獨立完成測試工作。此外,其數字I/O端口可以直接控制探測器、機械手和其他儀器,而TSP-Link功能還允許用戶(hù)在多個(gè)通道和儀器上執行高速的自動(dòng)化測試操作并避免GPIB通信開(kāi)銷(xiāo)。相比早期的定序式測試儀,測試時(shí)間減少了10倍,在元件測試方面的測試時(shí)間通常都降低了2到4倍。

2635和2636與吉時(shí)利新推出的3700系列系統開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表(也具有TSP和TSP-Link功能)結合使用時(shí),能支持范圍更廣的高速應用。同時(shí),這兩個(gè)產(chǎn)品系列提供了基本的功能模塊,能夠實(shí)現緊密集成的高性能開(kāi)關(guān)和多通道I-V測量系統。測試工程師使用這些產(chǎn)品可非常方便地構建出針對高產(chǎn)能測試優(yōu)化的低成本ATE系統,例如半導體強度測試和封裝器件的功能測試。

輕松的系統開(kāi)發(fā)

歷史上,為初級研發(fā)和高速產(chǎn)品測試工作而開(kāi)發(fā)多儀器特征分析系統或ATE系統曾是一大挑戰。吉時(shí)利通過(guò)兩個(gè)免費的軟件工具解決了這一問(wèn)題,大大簡(jiǎn)化了2600系列的系統集成。對于研發(fā)和曲線(xiàn)繪圖等應用,吉時(shí)利LabTracer™ 2.0軟件能夠控制多達8個(gè)通道,無(wú)論編程與否皆能執行器件特征分析操作。利用這種軟件,用戶(hù)可非常方便、輕松地配置每個(gè)通道,測試器件參數,繪制測試數據曲線(xiàn)。
對于高速生產(chǎn)測試的應用場(chǎng)合,用戶(hù)可使用一種簡(jiǎn)單的類(lèi)似于BASIC風(fēng)格的編程語(yǔ)言對測試腳本處理器進(jìn)行編程,所編寫(xiě)的腳本能在儀器上實(shí)時(shí)運行。其直觀(guān)而易于使用的界面兼容所有流行的編程語(yǔ)言。吉時(shí)利為信號掃描、脈沖發(fā)生、波形生成和常見(jiàn)的元件測試提供內嵌測試腳本。測試儀器中包含大量測試腳本,其他一些腳本可從吉時(shí)利官方網(wǎng)站http://www.keithley.com/上免費下載。為用戶(hù)預先編寫(xiě)的測試腳本可直接使用,或經(jīng)由用戶(hù)裁剪后使用,從而幫助生產(chǎn)用戶(hù)有效提高測試系統的執行速度。

用戶(hù)還可通過(guò)其他方式開(kāi)發(fā)自定義的測試腳本,包括Test Script Builder的免費編程工具,用戶(hù)能使用它提供的簡(jiǎn)單命令語(yǔ)言創(chuàng )建、修改、調試和保存TSP腳本。用戶(hù)腳本能從PC機上下載到主數字源表中,存儲在它的非易失性存儲器內。該存儲器具有16MB容量,可存儲50000行TSP代碼和100000個(gè)讀數。研究表明,利用TSP及其相關(guān)軟件,相比前幾代定序式測試儀器,用戶(hù)的系統開(kāi)發(fā)時(shí)間降低了50%到75%。

吉時(shí)利2600系列儀器的優(yōu)勢還體現在由其ACS(自動(dòng)特征分析套件)驅動(dòng)的總控集成測試系統上。2600系列儀器支持數量可擴展的源-測量通道以及各種半導體應用的高速測試,包括圓片級可靠性分析、圓片上參數化管芯分揀和自動(dòng)化特征分析。例如,需要極高測量速度的測量任務(wù)(例如動(dòng)態(tài)NBTI)可以順序執行,或者與器件級、圓片級或圓片盒一級的測試規劃并行執行。ACS所特有的靈活性以及用戶(hù)友好性實(shí)現了系統儀器的完全控制,提供了強大的圓片描述工具,支持半自動(dòng)和全自動(dòng)的探測器控制功能,提高了測試過(guò)程的自動(dòng)化,并對測試結果進(jìn)行深入分析。ACS利用2600系列的靈活性,為用戶(hù)提供了吉時(shí)利所獨有的自動(dòng)測試系統。



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