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用2600系列數字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機電流測試

  • CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機”)電源電流用于驗證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過(guò)程被稱(chēng)為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
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基于2400系列數字源表構建電阻網(wǎng)絡(luò )測試系統

  • 電阻網(wǎng)絡(luò )生產(chǎn)測試的目的是在生產(chǎn)的各個(gè)階段盡可能快速地檢驗這些器件的性能,以及它們最終的封裝形式。這些測試必須可靠以確保所有裝箱的產(chǎn)品都滿(mǎn)足制造規范。通常情況下,我們需要對網(wǎng)絡(luò )中的每個(gè)單元進(jìn)行電阻測量。
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利用大功率數字源表構建多源測量單元系統系統實(shí)例

  • 利用測試夾具對封裝器件進(jìn)行測試吉時(shí)利8010型大功率器件測試夾具與2651A以及2657A型大功率系統數字源表一起完善了功率半導體器件測試解決方案。圖1給出源測量單元(SMU)儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指
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吉時(shí)利推出全球首款2450型觸摸屏數字源表

  • 先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器日前宣布,推出首款采用電容性觸摸屏和圖標化操作界面的臺式數字源表(SMU)。2450型數字源表使用直觀(guān)的觸摸屏控制和圖標化操作界面,令新用戶(hù)通過(guò)簡(jiǎn)單操作快速獲取測試結果,大大縮減學(xué)習儀器操作的時(shí)間,顯著(zhù)提高工作效率,同時(shí)將更多時(shí)間用于科研領(lǐng)域的發(fā)明和創(chuàng )新。
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吉時(shí)利重磅推出首款觸摸屏源測量單元儀器

  •   近幾年,觸摸屏應用以其直觀(guān)易用的優(yōu)勢,大行其道。吉時(shí)利也于近期推出了業(yè)內首款采用觸摸屏的臺式源測量單元(SMU)儀器Model 2450。   據吉時(shí)利儀器高級營(yíng)銷(xiāo)產(chǎn)品經(jīng)理Jonathan Tucker介紹,吉時(shí)利了解到,現在使用測試儀器的工程師或者研究人員越來(lái)越希望測試儀器使用起來(lái)更加容易,拿來(lái)經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單了解就可以上手,而不是像過(guò)去一樣,學(xué)習儀器的使用就需要很長(cháng)時(shí)間。所以,在吉時(shí)利“觸摸、測試、創(chuàng )新”設計理念指導下,觸摸屏在2450上擔當起了這一重任。   2450和上一代
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吉時(shí)利推出全球首款2450型觸摸屏數字源表

  •   先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器日前宣布,推出首款采用電容性觸摸屏和圖標化操作界面的臺式數字源表(SMU)。2450型數字源表使用直觀(guān)的觸摸屏控制和圖標化操作界面,令新用戶(hù)通過(guò)簡(jiǎn)單操作快速獲取測試結果,大大縮減學(xué)習儀器操作的時(shí)間,顯著(zhù)提高工作效率,同時(shí)將更多時(shí)間用于科研領(lǐng)域的發(fā)明和創(chuàng )新。   吉時(shí)利最新一代2450型數字源表的設計,基于“Touch, Test, Invent™”(觸摸、測試、創(chuàng )新)的設計理念,為用戶(hù)提供測試測量?jì)x器的嶄新互動(dòng)方式。如
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數字源表B2900A在半導體激光器測試中的應用

  • 半導體激光器是光纖通訊,激光顯示,氣體探測等領(lǐng)域中的核心部件,受到全世界科技人員的廣泛關(guān)注。在半導體激光器...
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吉時(shí)利三款最新型2600B系列數字源表

  • 吉時(shí)利儀器公司,作為先進(jìn)電性測試儀器與測試系統的領(lǐng)導者,推出三款最新的源測量單元(SMU)儀器,非常適合臺式及研發(fā)應用,拓展了2600B系列數字源表產(chǎn)品系列,提高量產(chǎn)生產(chǎn)率,產(chǎn)品更具易用性。
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吉時(shí)利發(fā)布專(zhuān)為高功率半導體測試優(yōu)化的高電壓數字源表

  • 先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測量單元數字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時(shí)利客戶(hù)分析范圍更寬的功率半導體器件和材料。2657A內建3,000V、180W源,支持以極低的成本向被測器件輸出5倍于最接近競爭系統的功率,并且,構建至2657A的精密、高速6位半測量引擎的1fA(飛安)電流測量分辨率滿(mǎn)足了下一代功率半導體器件的低漏電要求。
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吉時(shí)利專(zhuān)為低電壓測試推出2401型數字源表

  •   吉時(shí)利儀器公司日前發(fā)布了專(zhuān)為低電壓測試而優(yōu)化的低成本方案,擴展了其廣受工程師贊譽(yù)的2400系列數字源表產(chǎn)品線(xiàn)。與所有吉時(shí)利SMU(源測量單元)儀器一樣,新推出的2401型數字源表對光伏(太陽(yáng)能)電池、高亮度LED(HBLED)、低壓材料和半導體器件的電流與電壓(I-V)特性分析以及電阻測量等高精度測試應用進(jìn)行了優(yōu)化,并且,2401以前所未有的低價(jià)在20V和1A信號幅度上提供了源和測量單元的先進(jìn)功能。   
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吉時(shí)利發(fā)布2600系列SourceMeter® 數字源表2635和2636

  • 吉時(shí)利儀器公司發(fā)布了其2600系列SourceMeter® 數字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636,自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費比最高的半導體參數分析與測試解決方案。2635和2636采用最新特殊參數分析技術(shù),實(shí)現了高達1fa(10-15安)的測量分辨率,從而滿(mǎn)足了很多半導體、光電和納米器件的測試需求。此外,其基于儀器的多通道架構相比普通的基于主機的源測量方案降低了50%的成本。通過(guò)其測試腳本處理器(TSP™)和TSP-Link™互連通信總線(xiàn),測試工程師可利用2636和26
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