安捷倫推出第一個(gè)非向量測試功能及測量技術(shù)

安捷倫推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測試功能組成的套件，其中包括新的NPM測量技術(shù)。

這一測試功能是在世界上第一次包括NPM測量技術(shù)。用戶(hù)可以檢測連接器上電源管腳和接地管腳中的開(kāi)路，而許多業(yè)內人士曾一度認為這超出了現有測試能力的范圍。

隨著(zhù)信號在電路板上傳輸的速度越來(lái)越高，如在PCIe、DDR和SATA 連接器上，正確接地正變得日益關(guān)鍵。隨著(zhù)速度提高，接地針腳上的開(kāi)路可能會(huì )導致信號集成的設計范圍降低，誤碼率(BER)提高，放射電磁干擾(EMI)提高。

安捷倫VTEP v2.0是為幫助制造商檢測這些關(guān)鍵缺陷而設計的，功能測試和產(chǎn)品發(fā)售中可能檢測不到這些缺陷，在后期可能會(huì )給制造商帶來(lái)更高的成本。 

此外，通過(guò)VTEP v2.0，用戶(hù)可以獲原有得VTEP技術(shù)的優(yōu)勢，如更高的靈敏度，更有效地降低噪聲；同時(shí)獲得iVTEP的優(yōu)勢，該技術(shù)面向采用最小引線(xiàn)框或不帶引線(xiàn)框的超小型集成電路封裝。iVTEP還適用于帶有散熱片的設備及帶有附加散熱器的器件。

安捷倫在線(xiàn)測試市場(chǎng)經(jīng)理NK Chari說(shuō)，“VTEP v2.0提供了非向量測試必須提供的最佳功能?！蓖ㄟ^(guò)采用原有的VTEP技術(shù)作為核心，采用關(guān)鍵創(chuàng )新功能進(jìn)行增強，如屢獲大獎的iVTEP和新的NPM測量技術(shù)，VTEP v2.0使得用戶(hù)可以更好地了解系統狀況，彌補了以前在無(wú)矢量測量覆蓋方面缺失的信息。
Chari接著(zhù)說(shuō)，“我們希望制造商獲得這種重要的創(chuàng )新技術(shù)，我們相信，這一技術(shù)將提供前所未有的全新的覆蓋范圍，正因如此，我們在所有新的Medalist i3070系統中免費提供VTEP v2.0?！?

安捷倫今天還為印刷電路板組件推出Medalist i3070在線(xiàn)測試系統。
VTEP v2.0采用與原有VTEP相同的硬件，因此不要求進(jìn)行硬件升級。