吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導體特征分析系統最新版

　　美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布獲獎產(chǎn)品——4200-SCS半導體特征分析系統的最新硬件和軟件升級版本，本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實(shí)驗室系統的應用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應用工具包結合，為用戶(hù)提供完整解決方案。功能增強的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強大新功能。新升級版本不僅增強了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測量功能進(jìn)一步擴展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲器測試、高功率射頻器件測試以及先進(jìn)半導體材料的脈沖測試等。
功能增強的測試硬件

　　吉時(shí)利（Keithley）新型解決方案增強原有的硬件性能， 其采用的新型脈沖發(fā)生器插卡4205-PG2具備多種新功能，例如已申請技術(shù)專(zhuān)利的Segment ARBTM模式，幫助用戶(hù)通過(guò)簡(jiǎn)單線(xiàn)段即能輕松產(chǎn)生復雜波形。Segment ARB功能能夠產(chǎn)生基本的脈沖調制技術(shù)所無(wú)法產(chǎn)生的復雜波形。該功能非常適于Flash存儲器測試，其中需要一些復雜的碼型用于存儲單元特征分析和壽命測試。4205-PG2還集成一個(gè)任意波形發(fā)生器，即ARB模式，且具有一內置高耐用型輸出繼電器，壽命幾乎無(wú)限長(cháng)。利用該繼電器可輕易控制和代替Flash測試中的外置繼電器，縮短耐久性測試時(shí)間。

　　此外，新增電源擴展4200-SCS系統所允許的配置方案：一個(gè)4200-SCS機架最多實(shí)現支持四個(gè)獨立脈沖發(fā)生器卡。由于每個(gè)4200-PG2具有兩個(gè)通道，因此4200-SCS系統每個(gè)機架最多可支持8個(gè)脈沖通道。同時(shí)，集成的4205-PG2為外部觸發(fā)源提供一個(gè)觸發(fā)輸入信號，因此每個(gè)機架內的多個(gè)脈沖卡實(shí)現在10納秒內完成同步。

應對前沿技術(shù)挑戰的應用解決方案

　　吉時(shí)利（Keithley）本次發(fā)布的應用解決方案建立在功能增強的4205-PG2脈沖發(fā)生器卡和新版應用軟件基礎之上。4200-PIV-Q工具包針對由III-V族半導體材料和LDMOS工藝制成的射頻器件和高功率FET進(jìn)行脈沖I-V測試和信號分析而特別設計。4200-PIV-Q工具簡(jiǎn)單易用，非常靈活，具有