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半導體特征分析系統
半導體特征分析系統 文章 進(jìn)入半導體特征分析系統技術(shù)社區
吉時(shí)利發(fā)布4200-SCS半導體特征分析系統最新版
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司日前發(fā)布獲獎產(chǎn)品——4200-SCS半導體特征分析系統的最新硬件和軟件升級版本，本次升級引入4200-SCS新一代脈沖測試功能。實(shí)驗室系統的應用將集成直流和脈沖測量功能與完整的應用工具包結合，為用戶(hù)提供完整解決方案。功能增強的脈沖發(fā)生器插卡和新型的示波器插卡，為半導體技術(shù)生產(chǎn)和研究者們提供強大新功能。新升級版本不僅增強了吉時(shí)利4200-PIV工具包功能，還提供兩種新版應用解決方案，將4200-SCS通用直流與脈沖測量功能進(jìn)一步擴展到新領(lǐng)域，例如Flash存儲器測試
- 關(guān)鍵字： 4200-SCS 半導體特征分析系統 測量 測試 吉時(shí)利
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半導體特征分析系統介紹
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