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突破成本限制 半導體業(yè)界追尋替代新技術(shù)

作者: 時(shí)間:2014-11-05 來(lái)源:eettaiwan 收藏

  隨著(zhù)制造的成本與復雜度不斷提高,使得今年成為產(chǎn)業(yè)整并以及尋找替代性技術(shù)創(chuàng )記錄的一年。在日前于美國加州舉行的IEEE S3S大會(huì )上,舉會(huì )的工程師們不僅得以掌握更多絕緣上覆矽(SOI)、次閾值電壓設計與單3D整合等新技術(shù)選擇,同時(shí)也聽(tīng)說(shuō)了有關(guān)產(chǎn)業(yè)重組與整并的幾起傳聞。

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/264878.htm

  截至目前為止,今年全球公司已經(jīng)完成了23筆收購交易了,這比起過(guò)去兩年的交易數總和還更多,摩根士丹利(Morgan Stanley)投資銀行全球負責人Mark Edelstone在發(fā)表專(zhuān)題演講時(shí)透露。他同時(shí)預測今年的全球并購交易總值可能從174億美元增加到近300億美元。

  “今年的情況真的是破記錄了!”他列舉了今年出現的幾宗較大整并案例,如英飛凌科技(Infineon Technologies)和(IR)公司,以及安華高(Avago)和LSI公司之間的并購交易?!斑@個(gè)趨勢將會(huì )延續下去,預計在今后幾年都將呈現非常繁忙的并購景象?!?/p>

  

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  2009-2014年全球半導體產(chǎn)業(yè)并購交易數與總額

  資金成本較低正為所有的產(chǎn)業(yè)掀起并購浪潮,而制造成本和復雜度的增加更助長(cháng)了半導體產(chǎn)業(yè)的并購。目前制造一個(gè)20nm晶片的成本約需5,300萬(wàn)美元,較制造28nm晶片成本所需的3,600萬(wàn)美元更大幅提高,預計到了16/14nm節點(diǎn)時(shí)還將出現另一次躍升的高成本,Edelstone表示。 “要在這樣的投資環(huán)境下賺錢(qián),真的需要非常大的市場(chǎng),而且還會(huì )對半導體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展帶來(lái)巨大的影響。到了16/14 nm FinFET世代,每閘極成本仍持續地攀升,這將顯著(zhù)地改變半導體產(chǎn)業(yè)現狀——事實(shí)是:規模決定成敗?!?/p>

  與會(huì )的多位發(fā)言人一致認為,如今在整個(gè)產(chǎn)業(yè)中,每電晶體成本仍不斷上升中。不過(guò),英特爾(Intel)在今年9月時(shí)透露,其14nm FinFET制程將可支援更低的每電晶體成本。

  14/16nm FinFET制程節點(diǎn)象征著(zhù)產(chǎn)業(yè)今后發(fā)展的主流方向,但完全耗盡型(FD)和極薄的SOI制程也有機會(huì ),GlobalFoundries公司產(chǎn)品經(jīng)理Michael Medicino表示。

  有些對成本敏感的行動(dòng)晶片由于考慮到成本將會(huì )避免采用14nm和10nm FinFET制程,而且時(shí)間可能長(cháng)達4至6年。SOI可說(shuō)是為其提供了另一種替代方案,它能以接近28nm聚合物電晶體的成本,達到20nm bulk電晶體的性能,不過(guò)他認為在市場(chǎng)壓力下所有的bulk電晶體成本還會(huì )進(jìn)一步下降。

  Mendicino預計SOI替代技術(shù)在未來(lái)三年中占據約10%的代工業(yè)務(wù)比重,不過(guò)他強調這只是猜測?!叭旰笤賳?wèn)我吧!”他打趣道。

  此外,聯(lián)發(fā)科(Mediatek)高性能處理器技術(shù)總監Alice Wang介紹一個(gè)次閾值設計的案例。該公司的遠大目標在于推動(dòng)晶片達到漏電流和動(dòng)態(tài)能量交會(huì )的最小能量點(diǎn),這同時(shí)也是在她的博士論文和ISSCC 2004論文中提出的一個(gè)概念。

  工程師們已經(jīng)針對這項艱巨的目標努力了近一年。接下來(lái)將面臨的挑戰是提供仍能完成有意義的工作、可靠并且具有最小開(kāi)銷(xiāo)的晶片,Alice指出。

  大規模平行架構有助于提供超低功耗晶片進(jìn)行媒體處理任務(wù)時(shí)所需的性能。此外,時(shí)序收斂方面的新方法與新工具可以解決一些可靠性和開(kāi)銷(xiāo)的問(wèn)題,她表示。

  “我認為現在正是讓超低電壓(ULV)成為我們日常生活一部份的時(shí)候了?!彼谔岬介_(kāi)發(fā)中市場(chǎng)正出現可穿戴和設計議題時(shí)指出,“世界上還有大約13億人——占全球人口的20%,目前都還沒(méi)有電力供應……因此能源是新興市場(chǎng)面臨的真正關(guān)鍵挑戰?!?/p>

  

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  GlobalFoundries預計,下一代SOI可望以28nm聚合物電晶體的價(jià)格提供20nm的性能。

  大會(huì )主持人Zvi Or-Bach特別提到會(huì )議期間舉辦的兩次專(zhuān)題討論,會(huì )中討論到如何擴展目前最新快閃記憶體晶片中采用的單晶片3D設計類(lèi)型。

  專(zhuān)題討論之一由來(lái)自CEA-Leti和意法半導體(STMicroelectrlnics)的研究人員介紹單晶片3D整合技術(shù),這是因應2D晶片微縮帶來(lái)不斷增加的成本而開(kāi)發(fā)的一種替代性技術(shù)。他們在一項FPGA案例研究中發(fā)現,采用這種技術(shù)能夠比傳統堆疊結構減少55%的面積。

  在這份研究報告指出:?jiǎn)尉?D整合技術(shù)旨在按上下順序一個(gè)接一個(gè)地處理電晶體。然而,在實(shí)際建置時(shí)面臨著(zhù)許多挑戰,例如在溫度低于600℃的情況下能夠取得高性能頂部電晶體、以便在頂部堆疊式FET制造過(guò)程中防止底部FET出現性能退化……固定相位外延再生長(cháng)已證明其效率包含600℃左右的熱預算,預計在向下變化時(shí)也能具有高效率。

  另外,EV Group和Nikon公司代表分享用于鍵合與校準系統的新功能細節,這些技術(shù)能夠避免目前3D晶片堆疊中使用的矽穿孔(TSV)的高成本和高復雜度。

  EV Group公司展示為200nm或更先進(jìn)制程進(jìn)行鍵合校準精密度的案例。Nikon介紹了一種新的EGA精密晶圓鍵合技術(shù),“它可以獲得比250nm制程更好的穩定度和更高校準精密度……從而為制造未來(lái)的DRAM、MPU和影像感測器等3D IC開(kāi)路?!?/p>



關(guān)鍵詞: 國際整流器 半導體 晶片

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