評定封裝可靠性水平的MSL試驗

　　·在40倍光學(xué)顯微鏡下看到外部開(kāi)裂；

　　·電性能測試失效；

　　·貫穿一焊接的金絲、金球壓點(diǎn)或楔形壓點(diǎn)的內部開(kāi)裂；

　　·內部開(kāi)裂延伸從任意引線(xiàn)腳到其他內部的界面（引線(xiàn)腳、芯片、芯片托板）；

　　·內部開(kāi)裂延伸從任意內部的界面到塑封體的外部大于2／3的長(cháng)度；

　　·通過(guò)裸視，明顯的看到塑封體平面的變化是由于翹曲、腫脹或膨脹，如樣品仍然滿(mǎn)足共平面和下沉尺寸的話(huà)，可認為通過(guò)。

　?。?）需要進(jìn)一步評估的標準 評價(jià)分層對于器件可靠性的影響，半導體制造商可以按分層的要求、JEsD22-A113和JESD47或半導體制造商的內部程序文件執行可靠性評估試驗。分層測試是指從潮濕前到回流后，回流前后之間分層變化的值。它所計算的是分層占有關(guān)聯(lián)的總區域的百分比的變化值。可靠性評估可以由應力試驗、歷史的一般數據分析等組成。如果表面貼裝的器件能通過(guò)電性能測試，即使在芯片托板、散熱器、芯片背面（僅限于芯片上引線(xiàn)）上有分層，但是沒(méi)有開(kāi)裂或其他的分層，可以認為它們仍滿(mǎn)足規定分層的標準，同時(shí)被認為通過(guò)潮氣靈敏度級別。

　?。?）金屬框架封裝的分層的失效標準：

　　·在芯片的有源區域沒(méi)有分層；

　　·任何芯片托板的接地區域金絲球焊表面或芯片上引線(xiàn)的器件的分層不大于10％；

　　·延著(zhù)任何起隔離作用的聚合膜跨越任何金屬界面的分層不大于10％；

　　·在高熱特性封裝中通過(guò)芯片粘接區域或需要電接觸到芯片背面的器件，分層／開(kāi)裂不大于10％；

　　·沒(méi)有分層超過(guò)它的整個(gè)長(cháng)度的表面破裂界面（一個(gè)表面破裂的界面包括引線(xiàn)腳、tie bars、散熱器、熱芯塊等）。

　?。?0）失效標準

　　所有失效必須分析并確認該失效機理是否與潮氣敏感度有關(guān)聯(lián)。如果在選擇的級別中，失效不是起因于回流潮氣敏感度，則認為這器件仍通過(guò)相應的潮氣敏感度級別。

　?。?1）可靠性評估試驗的項目／條件和判據

　　對于預定的MSL級別，先進(jìn)行MSL的預處理試驗（除了MSL流程圖中的第2、4、6、9步）。預處理試驗后，建議做以下兩項可靠性評估試驗（試驗樣品的數量和合格判決可參考JESD47中的試驗方案）。

　　·168小時(shí)#121℃100％RH 15Psig PCT測試。

　　·100次循環(huán)#一65-150℃T／C測試。

　?。?2）潮氣／回流敏感度分級