更快地對高速存儲故障深入調試三大步驟

間歇性?xún)却婀收咸幚砥饋?lái)可能會(huì )非常復雜。這些故障的根源可能是一種原因或多種不同原因的組合，包括BIOS錯誤、協(xié)議錯誤、信號完整性問(wèn)題、硬件問(wèn)題、內存或其它子系統問(wèn)題。盡管有些團隊能夠迅速解決內存調試問(wèn)題，但更多團隊在遇到間歇性故障時(shí)會(huì )束手無(wú)策。本文概括介紹了間歇性?xún)却婀收系?a class="contentlabel" href="http://dyxdggzs.com/news/listbylabel/label/調試">調試方法，文中通過(guò)多個(gè)實(shí)例，說(shuō)明了如何才能找出引起內存問(wèn)題的不同原因。對于經(jīng)常遇到系統未能引導或內存測試失敗的工程師來(lái)說(shuō)，也可從本文介紹的調試方法中受益。

　　圖1：DDRII激活時(shí)的高分辨率定時(shí)軌跡。

　　各種子系統、不同工作模式和多種循環(huán)導致的串擾和資源沖突一直是引起許多間歇性?xún)却婀收系母驹?。對于間歇性?xún)却婀收?，查找其根本原因的方法分成三步?） 確定故障是否可以重復。試著(zhù)復制產(chǎn)生故障的條件。重復故障通?？梢杂行У夭榭垂收系奶攸c(diǎn)。2） 使用普通探頭或插槽式分析探頭把內存總線(xiàn)連接到邏輯分析儀上，以迅速查看：整個(gè)DDRII總線(xiàn)的定時(shí)關(guān)系、百萬(wàn)分之幾概率的誤碼、協(xié)議錯誤和時(shí)鐘質(zhì)量。3） 用高速示波器及高帶寬探頭，在信號的接收端進(jìn)行參數測量，包括：對于寫(xiě)入內存的數據在SDRAM上進(jìn)行探測和對于從內存讀出的數據在內存控制器上進(jìn)行探測。

　　評估內存故障要考慮的因素

　　在試圖重建故障條件時(shí)，記住故障的根本原因可能來(lái)自未直接連接到內存上的子系統或子應用。局域網(wǎng)接入、子系統上電順序、進(jìn)入或退出睡眠模式以及電源周期都是在評估內存故障時(shí)需要考慮的重要因素。

　　在某個(gè)特殊的測試或設置條件下隔離問(wèn)題，可以使問(wèn)題變的比較容易。例如，在某項測試過(guò)程中發(fā)生的故障可能會(huì )指向軟件程序或信號完整性問(wèn)題，如串擾或碼間干擾。對可重復故障，用戶(hù)可以在故障條件下進(jìn)行多次測量。

　　重復故障條件說(shuō)起來(lái)容易，但做起來(lái)要難得多。需要考慮的細節包括：

　　圖2：CK0和S0的眼掃描（Eye Scan）。

　　軟件：是否有錯誤記錄？BIOS、操作系統和應用程序是否在測試時(shí)運行？

　　環(huán)境：在系統出現故障時(shí)室內溫度是多少？在故障期間，被測系統的空氣流動(dòng)情況如何？系統供電是否在技術(shù)規范之內？

　　硬件：采用同一設計的其他系統是否已經(jīng)通過(guò)驗證測試？其它系統也有故障？還是只有這個(gè)系統發(fā)生這種故障？故障系統的電路板、DIMM、處理器等是什么版本？故障系統與工作系統有什么區別？制造中最新的元器件有什么變化？

　　如果條件可以重復，那么在這些條件下進(jìn)行測試；如果條件不能重復，那么選擇最好的內存進(jìn)行測試，并按順序改變測試條件（如溫度極限和電源極限）。

用邏輯分析工具縮小問(wèn)題區域

　　在調試 DDR系統時(shí)，邏輯分析有效地補充了高速示波器的限制。使用DDR探頭或插槽分析探頭進(jìn)行邏輯分析，可以迅速查看系統中的問(wèn)題區域。通過(guò)使用邏輯分析工具迅速縮小問(wèn)題區域，然后使用高性能示波器檢查可疑的信號，工程師可以節約大量的時(shí)間。