相變化內存開(kāi)創(chuàng )新型內存系統設計

對于一個(gè)多級單元架構(MLC),在一個(gè)多噪聲的環(huán)境內,10個(gè)電子數量太少,無(wú)法儲存多位數據,實(shí)際要求每位電子數量接近100個(gè),遠遠高于10個(gè)。即使達到這個(gè)指標,如此少的電子數量使其很難達到現有應用的可靠性要求。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/202398.htm相變化內存已經(jīng)上市銷(xiāo)售。三星(Samsung)于2004年發(fā)布一個(gè)PRAM原型,是第一個(gè)即將投產(chǎn)的相變化內存。不久之后,恒憶(Numonyx)推出了一個(gè)相變化內存原型,在2008年底前,已開(kāi)始限量出貨。從2006年起,BAE系統公司一直在航天航空市場(chǎng)出售C-RAM芯片,這個(gè)市場(chǎng)十分關(guān)注相變化內存,因為這項技術(shù)能夠抵抗阿爾法粒子輻射引起的數據位錯誤。
試用過(guò)這些芯片的設計人員表示,當使用比較老的傳統的內存技術(shù)時(shí),他們必須解決很多技術(shù)難題,而這項技術(shù)正好能夠協(xié)助他們根除這些問(wèn)題。
在一個(gè)典型的系統中,非揮發(fā)性?xún)却婧蚏AM內存都會(huì )被用到,前者用于保存編碼,后者用作高速緩存,有時(shí)也用于儲存其它編碼。為了避免使程序員處理不同類(lèi)型的記憶體,操作系統隱藏了各類(lèi)內存間的差異,以對其它程序透明的方式,執行對揮發(fā)性?xún)却婧头菗]發(fā)性?xún)却娴墓芾砣蝿?wù),而這大大增加了系統的復雜程度。
即便有了這種輔助功能,當使用只讀編碼儲存空間儲存編碼,以只讀數據儲存空間儲存數據時(shí),程序員還是受限某些限制。如果編碼或數據量大于內存的容量,即便超出一個(gè)字節,那部分儲存空間就必須擴大一倍,導致價(jià)格大幅提升。在某些狀況下,使用基于相變化內存的系統就可以避免這個(gè)問(wèn)題。
相變化內存改變了游戲規則。編碼和數據不必再分開(kāi)儲存在非揮發(fā)性?xún)却婧蚏AM的兩個(gè)容量固定的模塊內。編碼和數據可以保存在一個(gè)內存內。對于小型系統的設計人員,這種方法可以減少芯片數量,降低功耗。讀寫(xiě)內存和只讀存儲器之間不再有固定的界限,對于小型系統和大型系統的設計人員是莫大的福音。
閃存的復雜之處
閃存很難管理。曾有設計工程師形容管理閃存的過(guò)程是一種“非常復雜的舞蹈”。曾經(jīng)采用NAND或NOR閃存設計系統的工程師可以證實(shí)這點(diǎn),閃存管理需要考慮許多因素,例如:損耗均衡、讀寫(xiě)同步和壞塊管理,這使閃存管理任務(wù)變得極其復雜。
與基于閃存的設計相比,相變化內存帶來(lái)的問(wèn)題非常少。相變化內存支持位元組修改功能,因此沒(méi)有NAND和NOR閃存的寫(xiě)入之前需先擦除區塊的步驟,因而大幅簡(jiǎn)化了寫(xiě)入操作。在相變化內存內,邏輯1可以變?yōu)檫壿?,反之亦然;所以在寫(xiě)入操作之前無(wú)需進(jìn)行一次擦除操作,相變化內存的寫(xiě)入操作更類(lèi)似于RAM,而不像NAND或NOR閃存。
相變化內存寫(xiě)入操作速度快,無(wú)需NAND或NOR的擦除操作。因此,不再需要同步讀寫(xiě)功能,程序設計師幾乎不必再寫(xiě)專(zhuān)門(mén)的編碼,以防止在最新的寫(xiě)入操作附近發(fā)生讀取操作。
相變化內存的隨機尋址類(lèi)似于NOR或SRAM,非常符合處理器的要求。此外,相變化內存不需要NAND閃存的錯誤校驗功能,因為相變化內存能夠保證所有位保存的數據與寫(xiě)入的數據完全相同。
相變化內存根本不需要閃存管理所需的全部算法,例如:損耗均衡和壞塊管理。有人稱(chēng)相變化內存是“最適合韌體/軟件工程師用的非揮發(fā)性?xún)却?rdquo;。相變化記憶體另外還有一個(gè)好處:編碼儲存區和數據儲存區之間的界限比以前更加靈活。在今日的設計中,每個(gè)內存應用都需要自己獨有的內存拓撲,通常是:
_NOR和SRAM
_NOR+NAND和SRAM或PSRAM
_NOR或NAND+DRAM或移動(dòng)SDRAM
這些系統很少用非揮發(fā)性?xún)却姹4媾R時(shí)數據,也從來(lái)不用RAM保存編碼,因為在如果沒(méi)電RAM就會(huì )失去全部?jì)热?。相變化內存有助于?jiǎn)化這些配置,保存數據和編碼可以只用單一相變化內存芯片或一個(gè)PCM數組,在一般情況下就不再需要將非揮發(fā)性?xún)却嫘酒钆銻AM芯片使用。
相變化內存還有一個(gè)好處,程序員現在只需考慮編碼量和數據量,而不必擔心編碼和數據的儲存空間是兩個(gè)分開(kāi)的儲存區。如果數據儲存空間增加幾個(gè)字節,還可以從編碼儲存空間“借用”儲存空間,這在除相變化內存以外的其它任何拓撲中都是不可能的。
相變化內存的工作原理
相變化內存有晶體和非晶體兩種狀態(tài),正是利用這種特殊材料的變化狀態(tài)決定數據位是1還是0。和利用液晶的方向阻擋光線(xiàn)或傳遞光線(xiàn)的液晶顯示器同樣原理,在相變化內存內,儲存數據位的硫系玻璃可以允許電流通過(guò)(晶態(tài)),或是阻止電流通過(guò)(非晶態(tài))。
在相變化內存的每個(gè)位的位置都有一個(gè)微型加熱器,通過(guò)熔化然后再冷卻硫系玻璃,來(lái)促進(jìn)晶體成長(cháng)或禁止晶體成長(cháng),每個(gè)位就會(huì )在晶態(tài)與非晶態(tài)之間轉換。設定的脈沖信號將溫度升高到玻璃熔化的溫度,并維持在這個(gè)溫度一段時(shí)間;一旦晶體開(kāi)始生長(cháng),就立即降低溫度。一個(gè)復位脈沖將溫度升高,然后在熔化材料形成晶體前快速降低溫度,這個(gè)過(guò)程在該位位置上產(chǎn)生一個(gè)非晶或不導電的材料結構(圖2)。
加熱器的尺寸非常小,能夠快速加熱微小的硫系材料的位置,加熱時(shí)間在納秒量級內,這個(gè)特性準許進(jìn)行快速寫(xiě)入操作、防止讀取操作干擾相鄰的數據位。此外,加熱器的尺寸隨著(zhù)工藝技術(shù)節點(diǎn)縮小而變小,因此與采用大技術(shù)節點(diǎn)的上一代相變化內存相比,采用小技術(shù)節點(diǎn)相變化內存更容易進(jìn)行寫(xiě)入操作。相變化內存技術(shù)的技術(shù)節點(diǎn)極限遠遠小于NAND和NOR閃存(圖3)。

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