高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究文獻匯總,包括技術(shù)理論及解決方案

電子器件或材料按其等效電阻大小可劃分為：高阻器件、中阻器件、低阻器件。根據傳統噪聲測試原理，改進(jìn)已有噪聲測試技術(shù)和測試方法還可以繼續測量一些等效阻值在該范圍之外的器件的噪聲，這些器件被定義為低阻器件或高阻器件，其中等效阻值大致在1 -50歐之間的器件被定義為低阻器件，等效阻值大致在

歐之間的器件被定義為高阻器件。本文為大家介紹高阻器件低頻噪聲的測試技術(shù)與應用。

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--低頻噪聲測試技術(shù)理論(一)

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--低頻噪聲測試技術(shù)理論(二)

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--低頻噪聲測試技術(shù)理論(三)

本章主要闡述了低頻噪聲的物理基礎、測試技術(shù)的要求和實(shí)現方案。

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--高阻器件噪聲測試技術(shù)

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--高阻樣品噪聲測試解決方案

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--測試技術(shù)介紹

為解決國內外現有高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)中存在的問(wèn)題，本文設計了兩種噪聲測試技術(shù)作為解決方案，分別是一種電壓噪聲測試技術(shù)和一種電流噪聲測試技術(shù)。這兩種技術(shù)分別解決了前文中描述的電壓噪聲和電流噪聲測試技術(shù)的技術(shù)難題，并克服或緩解了已有高阻器件噪聲測試技術(shù)的缺陷。

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--高阻器件噪聲測試技術(shù)的驗證和應用

高阻器件低頻噪聲測試技術(shù)與應用研究--用于聚合物鉭電容的漏電流噪聲研究

本章改進(jìn)并簡(jiǎn)化了已有絕緣介質(zhì)漏電流測試方法，并通過(guò)計算機平臺上的數據采集卡采集該放大后的信號，之后在Labview軟件平臺下通過(guò)快速傅里葉變換將時(shí)域上的信號轉換為頻域上的電流功率譜密度，通過(guò)改變偏置電壓V我們可以測得不同偏壓下的電容漏電流噪聲。