Si87xx的CMTI性能測量

Silicon Labs數字隔離器(光電耦合器替代品)與標準光電耦合器之間關(guān)于共模瞬變抑制(CMTI)魯棒性的詳細對比。該視頻中展示了如何使用被認可的經(jīng)過(guò)校準的商業(yè)CMTI測試儀測量Si87xx數字隔離器的瞬變抑制特性，因此你能確切的了解到我們如何測量我們產(chǎn)品的CMTI性能。CMTI是一種在快速共模瞬變事件過(guò)程中隔離器維護數據完整性的能力。多種情況可能引起共模瞬變，例如IGBT驅動(dòng)電路、快速的高電壓或高電流開(kāi)關(guān)負載、電機驅動(dòng)和浮動(dòng)電源。本地在隔離器或電路板上的寄生通路能夠跨越隔離柵耦合，引起數據錯誤，危及系統完整性。Silicon Labs Si87xx系列產(chǎn)品產(chǎn)生的寄生電容與當前最先進(jìn)的光電耦合器相比要低2-3倍。這種降低的耦合帶來(lái)更高的CMTI性能，從而提高了系統可靠性和性能;這在高可靠性應用(例如電力傳輸和通信系統)中尤其重要。

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