數字隔離器高壓可靠性測量
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工藝流程和設備的詳細展示用于表征我們數字隔離器的長(cháng)期可靠性，以及他們如何在關(guān)鍵的安全能力方面超越光電耦合器。對于初次使用，設計人員可以在現有電路中使用引腳兼容的基于CMOS的隔離器替換光電耦合器，該基于CMOS的兼容隔離器看起來(lái)就像一個(gè)光電耦合器，但是與光電耦合器相比性能顯著(zhù)提升。有來(lái)自光電耦合器的領(lǐng)先供應商聲稱(chēng)我們的器件與老的光電耦合器產(chǎn)品相比在隔離耐壓能力方面不夠好。作為回應，該視頻將幫助你理解如何測量隔離可靠性，以及為什么Silicon Labs隔離器的隔離完整性不僅不用擔心，而且事實(shí)上，它應成為所有隔離器產(chǎn)品向往的標桿。
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/192787.htm詳情請看視頻，地址為：http://bbs.21ic.com/icview-550370-1-1.html
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