瑞薩通過(guò)Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解決方案

　　Mentor Graphics公司(納斯達克代碼：MENT)日前宣布瑞薩電子正在使用Tessent^® TestKompress^®/LogicBIST混合解決方案，以應對ISO 26262標準規定的對安全很重要的測試要求。這種混合方法要求的測試邏輯非常少，從而提供完整的解決方案：既包括用于實(shí)現低每百萬(wàn)缺陷數量(DPM)的高壓縮率掃描測試、又有內置自檢(BIST)。Mentor的混合測試功能非常適合于汽車(chē)等行業(yè)的高可靠性應用。

　　“壓縮掃描測試與邏輯BIST的組合，給瑞薩提供了一種高品質(zhì)解決方案，既可用于生產(chǎn)測試，亦可用于汽車(chē)行業(yè)ISO 26262標準要求的上電自檢(Power-On Self-Test)，”瑞薩電子公司系統集成業(yè)務(wù)集團設計自動(dòng)化部首席教授Toshiharu Asaka說(shuō)。“采用Mentor的集成解決方案而非分開(kāi)進(jìn)行ATPG壓縮和BIST實(shí)施，瑞薩還可簡(jiǎn)化其DFT實(shí)施流程，從而降低測試邏輯所需的die區，節約開(kāi)發(fā)者的時(shí)間，加快上市。”

　　Tessent TestKompress/LogicBIST混合解決方案提供現場(chǎng)系統自檢，并由壓縮ATPG進(jìn)行補充，這樣即使是在測試器存儲和接口受到限制，比如在老化測試(burn-in test)的情況下，也可達到最高的測試品質(zhì)。該解決方案可生成集成了嵌入壓縮邏輯的LBIST邏輯，同時(shí)自動(dòng)生成壓縮100倍及以上的目標“補充(top up)”模式，以補充LBIST偽隨機模式。該混合解決方案能減少生產(chǎn)測試時(shí)間與成本，同時(shí)實(shí)現低DPM和系統中測試的功能。

　　“對于不僅要在生產(chǎn)線(xiàn)上進(jìn)行非常細致的測試，也需要在開(kāi)始使用后能進(jìn)行自檢的IC產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，這種Tessent混合方法是減少測試成本和測試時(shí)間最高效的方法之一，”Mentor Graphics公司副總裁兼Design-to-Silicon部門(mén)總經(jīng)理Joseph Sawicki說(shuō)。“作為額外的好處，設計師們還可以節省實(shí)現這些測試功能所需邏輯的數量，同時(shí)享有一個(gè)經(jīng)簡(jiǎn)化的實(shí)現過(guò)程。”