華虹NEC攜手Advantest成功開(kāi)發(fā)RFID芯片多同測解決方案

　　上海華虹NEC電子有限公司 (以下簡(jiǎn)稱(chēng)“華虹NEC”)與全球專(zhuān)業(yè)測試設備供應商愛(ài)德萬(wàn)測試(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“Advantest”)近日共同宣布，已成功合作開(kāi)發(fā)ISO14443協(xié)議標準的RFID芯片晶圓級大規模多同測解決方案，并正式進(jìn)入量產(chǎn)階段。結合華虹NEC在智能卡和安全類(lèi)芯片領(lǐng)域先進(jìn)的生產(chǎn)工藝和測試開(kāi)發(fā)能力，華虹NEC與Advantest共同開(kāi)發(fā)出的測試方案，能迅速準確地進(jìn)行RFID反饋識別，其量產(chǎn)測試良率亦得到大客戶(hù)認可。

　　ISO14443協(xié)議標準的RFID芯片主要有兩種類(lèi)型，分別是TYPE A與TYPE B，主要區別在于13.56MHz的載波使用不同的調制/解調方式。實(shí)際應用中發(fā)射端發(fā)射13.56MHz的載波，并且把編碼信息調制在載波中。RFID芯片本身則通過(guò)天線(xiàn)端接收載波信號用于對芯片本身提供電源;同時(shí)RFID芯片也在發(fā)射端所提供的13.56MHz載波上疊加數據，從而返回數據給發(fā)射端形成信息交互。由于RFID芯片本身的特性決定了在進(jìn)行高同測數測試時(shí)，芯片相互間會(huì )存在有很大的串擾，影響測試良率，造成量產(chǎn)產(chǎn)能下降。

　　華虹NEC和Advantest共同開(kāi)發(fā)的測試方案中，充分發(fā)揮Advantest先進(jìn)測試系統T2000的技術(shù)優(yōu)勢，使用高抗串擾性的測試接口，并且在程序中進(jìn)行了減小誤碼率的優(yōu)化，將串擾引起的誤碼率降到最低，實(shí)現了RFID高同測數的測試需求。此次量產(chǎn)測試中采用的32同測方案是迄今為止業(yè)界同類(lèi)產(chǎn)品的最高同測數測試方案，同時(shí)雙方已為下一階段64同測方案做好了技術(shù)儲備。

　　華虹NEC副總裁徐偉先生表示：“華虹NEC與Advantest有著(zhù)長(cháng)期的合作歷史。此次通過(guò)兩個(gè)公司測試開(kāi)發(fā)團隊的共同努力，利用Advantest先進(jìn)測試系統T2000的技術(shù)優(yōu)勢，借助華虹NEC在智能卡和安全類(lèi)芯片領(lǐng)域先進(jìn)的生產(chǎn)工藝和測試開(kāi)發(fā)能力，我們成功突破了RFID芯片的量產(chǎn)測試效率瓶頸。這是RFID測試領(lǐng)域的一次重要飛躍，該方案也為大規模量產(chǎn)奠定了基礎，鋪平了道路。”

　　Advantest中國區總經(jīng)理徐勇先生表示：“半個(gè)多世紀以來(lái)，Advantest都一直致力于為客戶(hù)提供業(yè)界標桿產(chǎn)品和服務(wù)。華虹NEC是世界領(lǐng)先的晶圓代工廠(chǎng)，同時(shí)具有一支高水平的測試團隊與完善的測試系統，我們非常樂(lè )意向華虹NEC提供我們最先進(jìn)的測試系統和最全面的測試技術(shù)服務(wù)，支持華虹NEC為客戶(hù)提供全方位的測試解決方案。希望此次與華虹NEC合作開(kāi)發(fā)的RFID芯片多同測解決方案，能迅速推廣給客戶(hù)，贏(yíng)得市場(chǎng)，有效提升RFID測試的生產(chǎn)效率。”

　　通過(guò)此次的合作，華虹NEC和Advantest攜手突破了RFID芯片的量產(chǎn)測試效率瓶頸，為客戶(hù)提供了更具性?xún)r(jià)比的RFID芯片量產(chǎn)測試解決方案，能幫助客戶(hù)進(jìn)一步提升其產(chǎn)品的市場(chǎng)競爭力，并為客戶(hù)下一代的RFID芯片提供有力的測試技術(shù)支持。