吉時(shí)利ACS基礎版V1.2為半導體測試應用提供全新可用性、便捷性和高產(chǎn)能體驗

　　吉時(shí)利儀器公司，作為全球先進(jìn)電子測試儀器和系統的領(lǐng)先制造商，日前針對半導體測試與測量應用推出ACS基礎版半導體參數測試軟件的最新版本。ACS基礎版V1.2進(jìn)一步提高了元件或離散(封裝的)半導體器件特征分析的可用性、便捷性和測試產(chǎn)能。它具有Trace模式，能夠實(shí)時(shí)檢查測量結果，采用交互的方式控制電壓掃描，避免緊急情況下可能出現的器件擊穿。除了完全支持吉時(shí)利各種數字源表(SMU)之外，ACS基礎版將高速硬件控制、器件連接和數據管理功能集成在一套簡(jiǎn)潔易用的工具中， 并針對部件驗證、調試和分析進(jìn)行優(yōu)化。要想了解更多信息請點(diǎn)擊www.keithley.com.cn/products/semiconductor/characterizationsoftware/acsbasic/?mn=ACSBasicEdition。

　　更高的測試產(chǎn)能

　　ACS基礎版為用戶(hù)提供了令人難以置信的豐富的快速易用測試庫，用戶(hù)無(wú)需編程。直觀(guān)的GUI功能簡(jiǎn)化了多種I-V測試、數據采集和分析操作。即使是新用戶(hù)也能夠快速實(shí)現半導體元件測試，產(chǎn)生一系列曲線(xiàn)，然后立即與基準曲線(xiàn)進(jìn)行對比。盡管預先配置的測試例程將測試啟動(dòng)時(shí)間縮短至最短，用戶(hù)仍然可以靈活地優(yōu)化測試或整個(gè)測試系統。

　　ACS基礎版V1.2最新的Trace模式支持器件的交互式測試。用戶(hù)利用這種功能可以定義工作范圍，并對DUT進(jìn)行特征分析，同時(shí)避免損壞器件。在這種交互式模式下，用戶(hù)可以通過(guò)虛擬滾動(dòng)條或者PC鍵盤(pán)上的箭頭鍵，很方便地控制掃描電壓的大小。

　　適用于多種應用

　　ACS基礎版為從事封裝部件特征分析工作的廣大技術(shù)人員和工程師們實(shí)現了最大的測試產(chǎn)能，應用范圍涵蓋從早期器件研究到開(kāi)發(fā)、質(zhì)量驗證和故障分析等過(guò)程。無(wú)論對于大學(xué)的研究人員還是新興器件的開(kāi)研者，它都能夠提供很好的服務(wù)，幫助用戶(hù)成功實(shí)現從單純性研究到商業(yè)化應用的轉換。它還能夠應用于半導體代工廠(chǎng)或公司中，幫助用戶(hù)實(shí)現以元件級工藝優(yōu)化為目的的試生產(chǎn)，支持QA、故障分析和生產(chǎn)后端測試。