加速I(mǎi)C測試工具開(kāi)發(fā)進(jìn)程
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在硅谷，EDA工具供應商非?；钴S。每次Globalpress公司組織采訪(fǎng)活動(dòng)中，EDA都是重要環(huán)節。Mentor Graphics公司設計到芯片(Design to Silicon)部門(mén)副總裁兼總經(jīng)理Joseph Sawicki介紹了芯片測試的挑戰。
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/106766.htm
隨著(zhù)IC制程節點(diǎn)從90nm向65nm和45nm延伸，需要測試的數據量會(huì )激增，相應地會(huì )帶來(lái)測試成本的提高(圖1)。例如，從90nm到65nm時(shí)，由于增加了門(mén)數，傳統的測試量急劇增加;同時(shí)，在速(at-speed)測試也成倍增加，這是由于時(shí)序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時(shí)代，在前兩者的基礎上，又新增了在新節點(diǎn)上探測新缺陷的測試。
圖1 測試成本的驅動(dòng)力
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