加速I(mǎi)C測試工具開(kāi)發(fā)進(jìn)程

　　為了提高測試效率，對測試數據的壓縮持續增長(cháng)。據ITRS(半導體國際技術(shù)發(fā)展路線(xiàn)圖)預測(圖2)，2010年的壓縮需求比2009年翻番。

　　圖2 測試數據量壓縮的需求

　　仔細分析，可見(jiàn)這是由多方面因素導致的。首先，測試項目的非常復雜，例如，芯片中的不同部分采用不同的測試工具，例如CPU核采用ATPG工具，內存需要內存BIST(內置自測試)工具和內存修理工具，I/O需要SERDES工具，PLL有PLL測試工具，ASIC需要邏輯BIST工具和邊界掃描工具，另外，如何管理IP、工具、接口和相互作用等也是個(gè)問(wèn)題。因此，這就有可能影響測試成本和上市時(shí)間。另外，納米生產(chǎn)過(guò)程中也會(huì )出現一些光刻制造瑕疵(圖3)。

　　圖3 制造中的缺陷評估

　　這些使測試更加復雜性，并有可能增加測試成本和延長(cháng)上市時(shí)間。為了使客戶(hù)應對更小的制程節點(diǎn)、更復雜、低功耗、混合信號SoC測試，Mentor推出了其嵌入式壓縮和自動(dòng)測試向量生成(ATPG)技術(shù)，與Mentor公司2009年8月收購的LogicVision公司的BIST技術(shù)結合，組合為T(mén)essent。Tessent是最復雜的可測試設計(DFT)和芯片測試方案組合之一，它還包括LogicVision公司的SiliconInsight產(chǎn)品、Mentor的布線(xiàn)應用診斷工具和新發(fā)布的Tessent YieldInsight產(chǎn)品，可提供用于流片后(Post-silicon)的測試描述和產(chǎn)出分析。