芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST

　　中美貿易戰持續延燒，引發(fā)后續波及全球的貿易戰爭，當中更是突顯知識產(chǎn)權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開(kāi)發(fā)內存測試與修復技術(shù)的芯測科技(iSTART-Tek，簡(jiǎn)稱(chēng)iSTART)為了協(xié)助客戶(hù)對知識產(chǎn)權領(lǐng)域規避?chē)乐厥诺娘L(fēng)險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關(guān)的系統芯片開(kāi)發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開(kāi)發(fā)工具，可協(xié)助客戶(hù)快速的開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，避免忽略?xún)却鏈y試的細節而導致產(chǎn)品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語(yǔ)音識別、馬達控制、家電控制、電子卷標等MCU相關(guān)的系統芯片。

　　圖1、EZ-BIST 流程圖

　　芯測科技(iSTART)秉持著(zhù)幫助開(kāi)發(fā)者以更簡(jiǎn)單、更快速、更低成本的途徑實(shí)現SOC設計的初衷，提供優(yōu)化的內存測試電路，從產(chǎn)品設計源頭大幅提升測試良率，提高產(chǎn)業(yè)競爭力，先進(jìn)的功能與友善的接口能大幅縮減測試成本與產(chǎn)品上市的時(shí)間，滿(mǎn)足制造商的成本和產(chǎn)品可靠性的需求。

　　圖2、EZ-BIST GUI界面圖