科天推出磁盤(pán)驅動(dòng)器基片和盤(pán)片缺陷檢查的新技術(shù)

　　KLA-Tencor 公司（納斯達克股票代碼：KLAC）今天針對硬盤(pán)驅動(dòng)器基片與盤(pán)片高級缺陷檢查推出了 Candela 7100 系列。7100 系列建立在備受肯定且已量產(chǎn)化的 Candela 產(chǎn)品線(xiàn)基礎上，專(zhuān)為幫助制造商識別與分類(lèi)諸如凹陷、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級關(guān)鍵缺陷而設計，可以提升良率，降低檢測的總成本。

　　KLA-Tencor 成長(cháng)與新興市場(chǎng) （GEM） 集團副總裁 Jeff Donnelly 表示："Candela 7100 系列是我們光學(xué)表面分析技術(shù)的一個(gè)創(chuàng )新延伸，作為缺陷檢測與分類(lèi)的創(chuàng )紀錄工具，深獲客戶(hù)認同。憑借更高的靈敏度和分類(lèi)能力，7100 系列的一體化解決方案旨在減少對其它工具的依賴(lài)性，降低我們客戶(hù)的成本，并縮短他們獲得成果的時(shí)間。"表面積（儲存單位）密度的持續增長(cháng)推動(dòng)了對更低表面污染水平、更平滑的磁盤(pán)表面、對更小缺陷尺寸的更強靈敏度的需求，以及提早在制程中控制特定缺陷類(lèi)型的重要性。此外，隨著(zhù)磁記錄頭飛行高度的降低，微小缺陷如今對良率的影響也越來(lái)越大。Candela 7100 系列擁有業(yè)界領(lǐng)先的靈敏度，堪為應對這些業(yè)界挑戰的理想解決方案。

　　硬盤(pán)驅動(dòng)器行業(yè)要不斷滿(mǎn)足客戶(hù)對更高性?xún)r(jià)比的需求，因此制造商必須要以更快的時(shí)間獲得成果，采取在統計學(xué)上更有效的決策，同時(shí)保持成本競爭優(yōu)勢。Candela 7100 降低了對眾多非生產(chǎn)工具與方法的依賴(lài)性，例如原子力、掃描電子與透射電子顯微鏡，以及電性測試。目前需要在眾多檢測工具上進(jìn)行的分析，現在都可在單獨一臺機器上以更快的速度和更低的成本完成。

　　Candela 7100 系列正在接受領(lǐng)先存儲技術(shù)公司日立環(huán)球存儲技術(shù)公司 （HGST） 的認證。

　　KLA-Tencor 目前正在接受產(chǎn)品訂單。出貨計劃在十月份開(kāi)始。

　　9 月 17-18 日在加州圣克拉拉市縣圣克拉拉會(huì )展中心舉行的 DISKCON USA 2008 展覽會(huì )上，KLA-Tencor 還將在第 115 號展位展出 Candela 7100 系列，以及為數據存儲行業(yè)提供的其它良率管理解決方案。