吉時(shí)利4200-SCS新增C-V測量模塊4200-CVU

　　吉時(shí)利儀器公司(Keithley)，宣布為其4200-SCS半導體特性分析系統新增一套C-V測量功能—4200-CVU。4200-CVU能以測量模塊的形式插入4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內快速而方便地測量飛法(fF)和納法(nF)級電容。在4200-CVU的創(chuàng )新設計中采用了先進(jìn)的高性能電路，有8項專(zhuān)利正在申請中。該設備具有直觀(guān)的點(diǎn)擊式配置界面，線(xiàn)纜連接簡(jiǎn)單，內置的元件模型能夠使用戶(hù)直接獲得有效的C-V測量結果。無(wú)論用戶(hù)是否具有相關(guān)測量經(jīng)驗，都能使用該儀器實(shí)現專(zhuān)業(yè)級的C-V測量。

　　4200-CVU附帶最完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時(shí)利4200-LS-LC-12結合使用將實(shí)現更高測量效率。4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專(zhuān)用開(kāi)關(guān)矩陣卡，通過(guò)單針探測能實(shí)現高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶(hù)如I-V測試一樣輕松配置和執行功能全面的C-V測試。

　　吉時(shí)利公司4200-SCS支持利用各種第三方測試設備進(jìn)行C-V/I-V/脈沖測試的測試方法。這些特點(diǎn)使得4200-SCS/CVU非常適合于：半導體技術(shù)研發(fā)、工藝研發(fā)和可靠性研究實(shí)驗室;材料與器件研究實(shí)驗室和機構;需要臺式DC或脈沖測試設備的實(shí)驗室;需要體積小而功能多、儀器多的非專(zhuān)業(yè)實(shí)驗室與用戶(hù)。

　　吉時(shí)利對4200-SCS用戶(hù)提供持續軟硬件升級服務(wù)，這意味著(zhù)4200-CVU模塊及其所有相關(guān)軟件和可選硬件都能夠兼容早期的4200-SCS系統。由此，用戶(hù)完全無(wú)須因為設備或材料技術(shù)的更新而頻繁購買(mǎi)新的參數化分析儀。通過(guò)低成本升級，4200-SCS系統能夠滿(mǎn)足技術(shù)進(jìn)步帶來(lái)的測試需求。