高速電路設計中時(shí)序計算方法與應用實(shí)例
1滿(mǎn)足接收端芯片的建立,保持時(shí)間的必要性
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/273937.htm在高速數字電路設計中,由于趨膚效應、臨近干擾、電流高速變化等因素,設計者不能單純地從數字電路的角度來(lái)審查自己的產(chǎn)品,而要把信號看作不穩定的模擬信號。采用頻譜分析儀對信號分析,可以發(fā)現,信號的高頻譜線(xiàn)主要來(lái)自于信號的變化沿而不是信號頻率。例如一個(gè)1MHz的信號,雖然時(shí)鐘周期為1微秒,但是如果其變化沿上升或下降時(shí)間為納秒級,則在頻譜儀上可以觀(guān)察到頻率高達數百兆赫茲的譜線(xiàn)。因此,電路設計者應該更加關(guān)注信號的邊沿,因為邊沿往往也就是信號頻譜最高、最容易受到干擾的地方。
在同步設計中,數據的讀取需要基于時(shí)鐘采樣,根據以上分析,為了得到穩定的數據,時(shí)鐘的采樣點(diǎn)應該遠離數據的變化沿。
圖1是利用時(shí)鐘CLK的上升沿采樣數據DATA的示例。DATA發(fā)生變化后,需要等待至少Setup時(shí)間(建立時(shí)間)才能被采樣,而采樣之后,至少Hold時(shí)間(保持時(shí)間)之內DATA不能發(fā)生變化。因此可以看出,器件的建立時(shí)間和保持時(shí)間的要求,正是為了保證時(shí)鐘的采樣點(diǎn)遠離數據的變化沿。如果在芯片的輸入端不能滿(mǎn)足這些要求,那么芯片內部的邏輯將處于非穩態(tài),功能出現異常。

圖1 信號采樣示例

圖2 源同步系統拓撲圖
2時(shí)序分析中的關(guān)鍵參數
為了進(jìn)行時(shí)序分析,需要從datasheet(芯片手冊)中提取以下關(guān)鍵參數:
●Freq:時(shí)鐘頻率,該參數取決于對芯片工作速率的要求。
●Tcycle:時(shí)鐘周期,根據時(shí)鐘頻率Freq的倒數求得。Tcycle=1/Freq.
●Tco:時(shí)鐘到數據輸出的延時(shí)。上文提到,輸入數據需要采用時(shí)鐘采樣,而輸出數據同樣也需要參考時(shí)鐘,不過(guò)一般而言,相比時(shí)鐘,輸出的數據需要在芯片內延遲一段時(shí)間,這個(gè)時(shí)間就稱(chēng)為T(mén)co.該參數取決于芯片制造工藝。
●Tsetup(min):最小輸入建立時(shí)間要求。
●Thold(min):最小輸入保持時(shí)間要求。
除以上五個(gè)參數外,時(shí)序分析中還需要如下經(jīng)驗參數:
●Vsig:信號傳輸速度。信號在電路上傳輸,傳輸速度約為6英寸/納秒。
時(shí)序計算的目標是得到以下兩個(gè)參數之間的關(guān)系:
●Tflight-data:數據信號在電路板上的走線(xiàn)延時(shí)。
●Tflight-clk:時(shí)鐘信號在電路板上的走線(xiàn)延時(shí)。
以上參數是進(jìn)行時(shí)序分析的關(guān)鍵參數,對于普通的時(shí)序分析已經(jīng)足夠。
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