基于JTAG的調試器、接口及控制器等經(jīng)典設計匯總
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JTAG(JointTestActionGroup，聯(lián)合測試行動(dòng)組)是一種國際標準測試協(xié)議(IEEE1149.1兼容)。標準的JTAG接口是4線(xiàn)——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時(shí)鐘、數據輸入和數據輸出線(xiàn)。JTAG的主要功能有兩種，一類(lèi)用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問(wèn)題，另一類(lèi)用于Debug，對各類(lèi)芯片以及其外圍設備進(jìn)行調試。本文介紹基于JTAG的調試器及接口設計，供大家參考。
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/267832.htm本文選用大容量NOR Flash存儲器來(lái)存儲配置碼流，并利用JTAG接口完成配置碼流下載的FPGA多配置解決方案。與System ACE方案相比，該方案不僅能快速完成多個(gè)配置碼流的下載，還具有更高的配置速度和更低的實(shí)現成本。
本文實(shí)現的JTAG調試器具有基本的調試功能, 尚不具備完善的用戶(hù)操作界面, 特別是圖形操作界面, 另外網(wǎng)絡(luò )功能也需要進(jìn)一步完善。但調試器的設計和實(shí)現方法對于設計類(lèi)似調試器具有參考價(jià)值。為了提高JTAG調試器速率, 還可以采用CPLD或FPGA實(shí)現JTAG時(shí)序,通過(guò)存儲器形式與調試器CPU接口, 這將在提高速度的同時(shí), 減輕調試器CPU的負擔。
本文為解決系統集成復雜度越來(lái)越高所帶來(lái)的測試調試任務(wù)困難，標準規范了一種支持星型掃描功能的IEEE 1149.7測試訪(fǎng)問(wèn)端口(在本文中稱(chēng)為T(mén)AP.7接口)，其接口在原有的IEEE1149.1端口(JTAG)器件的基礎上提供新的功能與特征。
基于JTAG口對DSP外部Flash存儲器的在線(xiàn)編程設計
在采用TI數字信號處理器(DSP)的嵌放式硬件系統開(kāi)發(fā)完成，軟件也有CCS2.0集成開(kāi)發(fā)環(huán)境下仿真測試通過(guò)后，怎樣將編譯、鏈接后生成的可執行文件(.Out)，經(jīng)過(guò)轉換后的十六進(jìn)制文件(.Hex)寫(xiě)入硬件系統的Flash存儲器中，讓系統脫機運行，這是許多DSP開(kāi)發(fā)人員及初學(xué)者遇到并需要解決的問(wèn)題。本文以TMS320C6711-150 DSK板為例，介紹“在線(xiàn)仿真狀態(tài)下”對Flash的編程。
本文介紹一種基于“ARM處理器+FPGA”架構的重構控制器，其主要功能是控制按照用戶(hù)不同需求調用不同的方案配置目標可編程器件。該重構控制器具有相對通用性，適用于對同一類(lèi)FPGA芯片實(shí)現可編程器件在系統配置，對電路中出現的錯誤和故障進(jìn)行實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)重構，達到高可靠性的目的，有效節省邏輯資源。
基于JTAG接口實(shí)現ARM的FPGA在線(xiàn)配置
本文介紹一種在基于A(yíng)RM的嵌入式Linux系統中使用Jam Player和Jam配置文件，利用FPGA的JTAG接口對其進(jìn)行在線(xiàn)配置的方法，為軟件無(wú)線(xiàn)電應用中實(shí)現可重配置的移動(dòng)終端提供一種新方法。
基于JTAG的DSP外部FLASH在線(xiàn)編程與引導技術(shù)
本文以ADSP-21065L外部擴展的FLASH存儲器AT29LV020為對象，在Visual DSP++3.5環(huán)境中通過(guò)JTAG仿真器運行一段程序，將可引導代碼在線(xiàn)燒錄到FLASH中，并實(shí)現系統的引導。
本文利用SOPC技術(shù)的特點(diǎn)，設計一種通用型調試器。根據待調試目標板的CPU型號，將相應的調試IPcore和其他通用IPcore一起編譯生成一個(gè)嵌入式調試系統，下載到FPGA上，實(shí)現一個(gè)通用型調試器。
本文介紹基于JTAG的互連測試技術(shù)，可以在任何場(chǎng)合應用，包括板極測試與系統級測試，包括開(kāi)發(fā)調試、生產(chǎn)測試、維修測試等過(guò)程?；ミB測試是邊界掃描技術(shù)的主要應用之一，通過(guò)互連測試能夠檢測到電路板上互連的結構性故障。
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