基于JTAG的星型掃描接口的設計及其仿真

　　邊界掃描測試技術(shù)飛速發(fā)展，測試與調試功能不斷增強，硬件IP模塊向集成多個(gè)內核方向發(fā)展，以往芯片中傳統的測試訪(fǎng)問(wèn)端口(TAP)中嵌入單一的測試訪(fǎng)問(wèn)端口控制器(TAPC)逐漸被系統芯片中嵌入多個(gè)TAPC所取代。為使單芯片中集成多TAPC的操作規范標準化，2009年提出的新的測試標準IEEE 1149.7。為解決系統集成復雜度越來(lái)越高所帶來(lái)的測試調試任務(wù)困難，標準規范了一種支持星型掃描功能的IEEE 1149.7測試訪(fǎng)問(wèn)端口(在本文中稱(chēng)為T(mén)AP.7接口)，其接口在原有的IEEE1149.1端口(JTAG)器件的基礎上提供新的功能與特征[1]。目前，大量的集成系統和芯片接口都為IEEE 1149.1標準規范測試訪(fǎng)問(wèn)端口(TAP.1接口)，既滿(mǎn)足復雜系統測試的需要，又避免了重復開(kāi)發(fā)所帶來(lái)的浪費，最大化地重復利用目前已有的IEEE 1149.1 IP，基于原有JTAG器件的星型掃描技術(shù)的研究非常有應用價(jià)值和市場(chǎng)需求，本文針對支持星型掃描功能的接口進(jìn)行研究、設計及驗證。

　　1 IEEE 1149.7標準簡(jiǎn)介

　　IEEE 1149.7標準以IEEE 1149.1-2001邊界掃描標準為基礎，保持與之兼容的同時(shí)還增加新特性以支持測試與調試的擴展功能。標準規范了新特性的IEEE 1149.7測試訪(fǎng)問(wèn)端口(在本文中稱(chēng)為T(mén)AP.7接口)結構和控制時(shí)序邏輯，與IEEE 1149.1標準規范測試訪(fǎng)問(wèn)端口(TAP.1接口)所不同的是芯片中可嵌入多個(gè)測試存取端口控制器(TAPC)，并給它們劃分等級。標準中規范的TAPC等級由高到低包括：ADTAPC、CLTAPC和EMTAPC，它們在接口中成串型連接，且高等級的TAPC控制和管理低等級的TAPC。在功能特性方面：TAP.7接口定義了T0~T5 6個(gè)功能層次，每一層向上體現升級特性，向下體現兼容特性。T0層在啟動(dòng)時(shí)提供與TAP.1接口所規定的操作行為;T1層主要增加了電源控制功能;T2層增加了芯片級旁路功能，同時(shí)提供一種“熱連接保護”作用;T3層增加了支持4-線(xiàn)星型拓撲掃描的機制;T4層提供了支持2-引腳連接方式的功能特性; T5層增加數據傳輸功能以及支持邊界掃描以外的其他功能。

　　2 基于JTAG的TAP.7接口的升級特性

　　IEEE 1149.7測試標準定義了一種以IEEE 1149.1測試標準為基礎的調試及測試系統(DTS)與目標系統(TS)之間的連接。此連接表現為：在IEEE 1149.1標準規范測試訪(fǎng)問(wèn)端口[2](在本文中簡(jiǎn)稱(chēng)TAP.1接口)上添加一個(gè)由IEEE 1149.7標準規范的標準控制邏輯來(lái)實(shí)現新的功能特性(在本文中稱(chēng)添加層為T(mén)AP.7控制器)。TAP.7控制器主要為IEEE 1149.7標準規范的測試調試信號與IEEE 1149.1標準規范IP的TAP.1接口提供兼容的測試調試接口(本文中簡(jiǎn)稱(chēng)TAP.7接口)，這樣可在原有TAP.1接口上對調試與測試新功能升級，其TAP.7接口升級特性的測試連接框圖如圖1所示。

　　如圖1所示，TAP.7接口升級層中TAP控制器為ADTAPC(在本文中簡(jiǎn)稱(chēng)為T(mén)APC)，主要完成對TAP.7信號的控制操作，從而實(shí)現新的升級功能特性，并將TAP.7信號的測試與調試邏輯解碼為符合TAP.1接口的時(shí)序信號，從而完成對IEEE 1149.1器件TAPC的控制。IEEE 1149.1 IP也可認為是具有符合IEEE 1149.1測試標準的測試JTAG口的器件[3] (在本文中以后簡(jiǎn)稱(chēng)為STL)，其中包含的TAP控制器(在本文中統稱(chēng)為芯片級TAPC即CLTAPC)是完全符合IEEE 1149.1測試標準規范的TAP接口，主要完成器件的測試與調試邏輯的控制，從而完成相應的測試與調試任務(wù)。

　　3 星型掃描技術(shù)接口的原理及設計

　　完整的TAP.7接口升級層包括RSU、APU、EPU。RSU(復位選擇單元)提供復位操作和TAP.7控制器選擇取消操作。EPU(擴展協(xié)議單元)主要為T(mén)1-T3層 TAP.7接口提供了一個(gè)IEEE 1149.1 接口。APU為T(mén)4-T5層提供窄式(2-引腳)或寬式(4-引腳)TAP.7接口，為高級協(xié)議操作提供硬件支撐。根據實(shí)際功能的設計需求，TAP.7控制器可以由RSU、EPU和APU 中的任意組合構成，為T(mén)AP.7信號與STL的TAP.1接口之間提供了一座橋梁，且RSU、APU和EPU層并不影響STL掃描路徑的長(cháng)度。

　　3.1 星型掃描功能接口硬件設計

　　4-線(xiàn)星型掃描拓撲功能是TAP.7接口T0~T3層所定義的，組成星型拓撲的技術(shù)分支是廣義的，可包括：TAP.7接口串型拓撲的技術(shù)分支、4線(xiàn)星型拓撲的技術(shù)分支、TAP.1接口的串型技術(shù)分支和其他的技術(shù)分支。本文主要是對前兩種技術(shù)分支共享DTS連接的掃描功能進(jìn)行研究。根據TAP.7功能擴展性和硬件層次性，星型掃描功能的TAP.7接口硬件層主要包括：RUS和EPU單元。其硬件設計原理框圖如圖2所示。

　　圖2中，RSU單元層主要實(shí)現TAP.7控制器的在線(xiàn)或離線(xiàn)狀態(tài)的控制操作，可以將不必要進(jìn)行測試調試的控制器置于離線(xiàn)狀態(tài)，大大優(yōu)化了測試調試操作。在星型掃描拓撲或多種掃描拓撲技術(shù)分支共享DTS操作時(shí)， RSU單元提供了選擇不同技術(shù)分支和控制器的功能。EPU單元的功能是將TAP.7信號解碼成符合IEEE 1149.1標準規范的TAP.1信號，實(shí)現對CLTAPC的控制和完成STL的調試測試任務(wù)。

　　3.2 星型掃描技術(shù)接口設計原理

　　星型掃描的應用，可以?xún)?yōu)化掃描鏈的長(cháng)度，它是并行的連接方式，因此在TAP可以靈活地添加或移出測試系統(比如：插卡式構架)中，星型掃描拓撲是很有效的。支持星型掃描的TAP.7接口具備以下功能：(1)支持星型掃描拓撲中的尋址能力。(2)JTAG接口中的TDO數據的驅動(dòng)沖突保護。(3)在多技術(shù)分支共享DTS的操作中，提供選擇不同技術(shù)分支的操作。下面對這些功能的原理進(jìn)行詳細介紹。

　　3.2.1 TAPC停泊狀態(tài)

　　TAPC等級制度中存在一個(gè)稱(chēng)為“parking”(停泊)的TAPC 狀態(tài)，當某一等級TAPC的狀態(tài)處于停泊時(shí)，其高等級TAPC可操作，而該等級以及低等級TAPC不能操作，它的狀態(tài)不隨高等級TAPC的操作同步改變。某一等級TAPC控制的掃描鏈不作用時(shí)，TAPC的狀態(tài)就可以停泊。選擇與取消用來(lái)描述在任何等級中TAPC的掃描與停泊狀態(tài)。支持星型掃描功能的TAP.7接口有TAP.7控制器的ADTAPC和STL的CLTAPC兩個(gè)TAPC等級，其ADTAPC可以在任何狀態(tài)下停泊，CLTAPC 狀態(tài)可停泊的狀態(tài)包括Test-Logic-Reset、Run-Test/Idle和Pause-XR狀態(tài)。本文中取消與選擇的設計，用門(mén)限時(shí)鐘信號來(lái)達到對ADTAPC與CLTAC的選擇與取消操作。