半導體所在微機電射頻諧振器件研究
在科技部和中國科學(xué)院的大力支持下,半導體研究所集成技術(shù)工程研究中心相關(guān)課題組多年來(lái)致力于射頻諧振器件以及相關(guān)的測試表征系統的研制工作,在諧振器構型、微納加工工藝、器件測試方法研究和測試系統組建等方面取得了系列科研進(jìn)展。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/260588.htm微機電系統(MEMS)是指利用微納加工技術(shù)制作的、同時(shí)具有機械組元和電子組元的小型化器件或系統。另外,以集成電路為代表的現代電子工業(yè)的發(fā)展遭遇到了特征尺度進(jìn)一步小型化的瓶頸,其中關(guān)鍵問(wèn)題之一是,利用IC工藝或與IC兼容的微納加工工藝,不能在同一電路芯片上制作出滿(mǎn)足特性要求的小型化的電感、電容等構成的諧振器件。目前的解決方案通常是采用片外組元,這無(wú)疑增加了器件成本和體積,并且不利于高頻信號的處理。
微機電高頻/射頻諧振器件是解決這一難題的最佳技術(shù)途徑,它以換能原理為基礎,將輸入的電信號轉換為機械結構振動(dòng)的機械信號,并由該機械結構對電信號進(jìn)行選頻、濾波等操作,在輸出端將此機械信號轉換為相應的電信號輸出。研究具有高品質(zhì)因子Q值的MEMS諧振器并進(jìn)而發(fā)展出新型電路、器件和系統,將從根本上影響甚至極大地改變射頻器件和產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。歐美各國從上世紀九十年代起,長(cháng)期支持射頻MEMS諧振器件的研發(fā),2006年研制出了最高頻率達125 MHz的MEMS振蕩器。
高Q值高頻/射頻微納諧振器件的研究具有很強的高技術(shù)應用背景。以射頻收發(fā)組件為例,它由天線(xiàn)、放大器、濾波器、混頻器和振蕩器等5個(gè)基本射頻器件組成;其單片化、小型化、低功耗化以及低成本化是射頻器件和產(chǎn)業(yè)發(fā)展的必然趨勢,也是構建無(wú)線(xiàn)傳感器網(wǎng)絡(luò )等高端應用的重要基礎。實(shí)現這5個(gè)器件更小、更輕以及能耗更低的最大瓶頸在于振蕩器和濾波器的發(fā)展改善。
發(fā)展射頻MEMS諧振器件的難點(diǎn)和關(guān)鍵點(diǎn)在于:(1)工作于射頻頻段的新型諧振器的構型設計,以及相應的微納加工工藝的探索;(2)高品質(zhì)因子Q值的實(shí)現;(3)針對MEMS 諧振器件低維、小尺度特點(diǎn)的,特殊的測試表征方法和測試系統的開(kāi)發(fā)和研制。
針對MEMS研究領(lǐng)域這一重要發(fā)展動(dòng)向,半導體研究所自2004年起開(kāi)展了高頻/射頻諧振器件以及相關(guān)的測試表征系統的研制工作。他們在諧振器構型、微納加工工藝、器件測試方法研究和測試系統組建等一系列方面開(kāi)展了深入系統的研究工作,取得了系列的科研進(jìn)展,制作出了基頻150 MHz、Q值高于104的新型圓盤(pán)諧振器原型器件(見(jiàn)圖1),研制了具有獨立自主知識產(chǎn)權的、高頻/射頻MEMS諧振器件的寬頻譜測試表征系統(最高可測試頻率6 GHz)(見(jiàn)圖2)。已申請國家專(zhuān)利4項(另外有2項正在申請)、發(fā)表文章8篇。
半導體研究所在高頻/射頻諧振器原型器件的制作,以及相關(guān)測試表征系統的研制方面的進(jìn)展,必將對我國射頻MEMS器件研究及相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展起到一定推動(dòng)作用。
圖1.研制的新型圓盤(pán)型諧振器原型器件及其測試結果
圖2. 研制的高頻/射頻MEMS諧振器件的寬頻譜測試表征系統
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