采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統解決方案
概述:提出一種基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統設計方案,詳細介紹系統硬件設計以及CPLD內部控制原理,并對CPLD控制電路仿真。該系統體積小、功耗低,能夠實(shí)時(shí)記錄多次重觸發(fā)信號,每次信號記錄均有負延遲,讀取出數據時(shí),無(wú)需程序調整,即可準確復現記錄波形,因此重觸發(fā)技術(shù)在存儲測試系統中的應用具有重要意義。
1 引言
多次重觸發(fā)技術(shù)應用于多種場(chǎng)合,如一個(gè)30齒的齒輪,設齒輪嚙臺系數為1.2,若測量其中1齒多次嚙合時(shí)的應力,則1齒的嚙合時(shí)間只占齒輪轉l圈時(shí)間的1.2/30,其余28.8/30的時(shí)間為空閑態(tài),而空閑態(tài)記錄無(wú)意義。為此開(kāi)發(fā)多次重觸發(fā)技術(shù),以齒應力作為內觸發(fā)信號,只記錄每次觸發(fā)后的有用信號,并具有負延遲,而不記錄空閑狀態(tài).直到占滿(mǎn)記錄裝置存儲空間,這樣可有效利用存儲空間,記錄更多的有用信號。
2 多次重觸發(fā)存儲測試系統總體設計
2.1 多次重觸發(fā)存儲測試系統工作原理
圖1為多次重觸發(fā)存儲測試系統原理框圖,其工作原理:被測信號經(jīng)傳感器變?yōu)殡娦盘柡?,輸入至模擬調理電路,再經(jīng)放大濾波后輸入至A/D轉換器,將模擬信號轉換為數字信號,然后經(jīng)過(guò)FIFO傳輸給存儲器,計算機通過(guò)通信接口讀取數據。其中,該存儲測試系統的A/D轉換器的轉換和讀時(shí)鐘、FIFO及存儲器的讀寫(xiě)時(shí)鐘、推地址時(shí)鐘均由CPLD控制產(chǎn)生。
2.2 負延遲的實(shí)現
動(dòng)態(tài)信息存儲要求真實(shí)有效地記錄有用信號,根據被測信號特點(diǎn),需記錄下觸發(fā)前信號在極短時(shí)間內的數據,這就要使用負延遲技術(shù)。負延遲也稱(chēng)為提前傳輸,即將觸發(fā)信號的觸發(fā)采集時(shí)刻提前一段時(shí)間作為傳輸數據的起始點(diǎn)。該系統設計采用FIFO存儲器實(shí)現負延負延遲。觸發(fā)信號未到來(lái)時(shí),A/D轉換器輸出的數據不斷寫(xiě)入FIFO存儲器中,A/D轉換器轉換的數據不斷刷新FIFO存儲器的內容。一旦觸發(fā)信號到來(lái),數據則開(kāi)始從FIFO寫(xiě)入存儲器。
2.3 主要器件選型
該系統設計選用AD7492型A/D轉換器。該器件為12位高速、低功耗、逐次逼近式A/D轉換器。在5 V電壓,速率為1 MS/s時(shí),其平均電流僅1.72 mA,功耗為8.6 mW;在5 V電壓和500 kS/s數據傳輸速率下,消耗電流1.24 mA,因此,該器件能夠滿(mǎn)足系統低功耗要求。由于該系統設計的存儲器總體容量為512 KB,因此選用l片容量為512 KB的N08T163型存儲器。并通過(guò)靜態(tài)存儲器時(shí)序配合實(shí)現自制的FIFO存儲器,功耗約為同類(lèi)FIFO存儲器的1/10。系統設計的負延遲記錄l KB,選用128 KB容量的N02L163WC2A型存儲器。針對存儲測試系統功耗低,體積小,且控制邏輯較復雜的因素,MAX7000B系列的EPM7128BTCl44-4型CPLD作為控制器。該器件是高性能,低功耗的CMOS型CPLD,2500個(gè)可用邏輯門(mén)電路,引腳到引腳的傳輸延時(shí)為4.0 ns,系統工作頻率高達243.9 MHz。
3 CPLD控制電路的設計
基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統主要由A/D轉換器、存儲器、FIFO和控制器CPLD等組成,其中CPLD控制電路由時(shí)鐘、多次重觸發(fā)、FIFO地址發(fā)生、存儲器地址發(fā)生、存儲器計滿(mǎn),電源管理和計算機通信等模塊組成,如圖2所示。
3.1 控制電路各模塊功能
(1)電源管理模塊 該模塊主要控制系統功耗。當系統處于休眠狀態(tài)時(shí),只有Vcc對CPLD供電;當系統進(jìn)入正常工作狀態(tài)時(shí),Vcc,VDD和VEE同時(shí)供電,晶振工作,當采樣結束,系統關(guān)閉VEE,模擬部分進(jìn)入休眠狀態(tài),晶振停止工作。該模塊能夠滿(mǎn)足系統低功耗要求。
(2)時(shí)鐘模塊 晶振提供的4 MHz信號經(jīng)4個(gè)二分頻器,分別得到2 MHz、1 MHz、500 kHz和250 kHz的時(shí)鐘信號,由這些信號組合得到A/D轉換器的采樣信號convst、FIFO的寫(xiě)信號、A/D轉換器的讀信號ffwr_adread以及FIFO的推地址信號ff_dz,均為250 kHz。
(3)多次重觸發(fā)模塊 當外界多次重觸發(fā)信號m_tri到來(lái)后。經(jīng)D觸發(fā)器產(chǎn)生的open信號變?yōu)楦唠娖?,計數器開(kāi)始計數時(shí)鐘信號ff_dz,每計8 KB后停止計數,并產(chǎn)生清零信號clr對open信號清零,等待下次觸發(fā)信號。由時(shí)鐘信號ff_dz和open信號控制產(chǎn)生的時(shí)鐘信號clkl作為寫(xiě)存儲器時(shí)的推地址信號和寫(xiě)信號,open信號取反后接至存儲器使能端。
(4)FIFO地址發(fā)生模塊CPLD對FIFO的地址控制由時(shí)鐘模塊ff_dz信號產(chǎn)生,在時(shí)鐘信號ff_dz的下降沿開(kāi)始推FIFO地址。
(5)存儲器地址發(fā)生模塊 多次重觸發(fā)模塊產(chǎn)生clkl信號作為存儲器的推地址信號m_dz推地址,將轉換數據寫(xiě)入存儲器,寫(xiě)滿(mǎn)8 KB后停止寫(xiě)操作,等待下次觸發(fā)信號。存儲器存滿(mǎn)512。KB后停止推地址和寫(xiě)操作,等待計算機讀數。讀數時(shí),計算機每向CPLD發(fā)送1個(gè)讀數脈沖,地址信號向前推進(jìn)1位,CPLD就從存儲器中對應的地址單元讀取1個(gè)數據。
(6)存儲器計滿(mǎn)模塊 當多次重觸發(fā)信號m_tri到來(lái)后,open信號變?yōu)楦唠娖?,計滿(mǎn)8 KB后變?yōu)榈碗娖?,等待下次觸發(fā)信號。因此用計數器計數open信號下降沿,計滿(mǎn)64個(gè)后存儲器滿(mǎn)信號tc變?yōu)楦唠娖健?/P>
3.2 CPLD總體控制電路仿真及分析
圖3為CPLD總體控制電路仿真圖。圖3中觸發(fā)信號m_tri產(chǎn)生3次,由nopen信號看出存儲器選通3次,由存儲器地址信號m_addr的變化可看出存儲器記錄每個(gè)觸發(fā)信號8 KB,并不斷更新FIFO的數據。第1個(gè)觸發(fā)信號m_tri到來(lái)后,nopen信號變?yōu)榈碗娖郊催x通存儲器。這時(shí)產(chǎn)生存儲器的推地址信號和寫(xiě)信號m_dz信號,并且在下降沿時(shí)將推地址給存儲器,存儲器在低電平期間進(jìn)行寫(xiě)操作。觸發(fā)信號m_tri到來(lái)后計滿(mǎn)8 KB,nopen信號產(chǎn)生高電平不選通存儲器,且存儲器的推地址信號和寫(xiě)信號m_dz變?yōu)楦唠娖健?/P>
4 實(shí)驗驗證
通過(guò)實(shí)驗驗證該測試系統功能。實(shí)驗中給測試系統加載8次觸發(fā)信號,連續采集8次。由于該系統設計最多可以采樣64次,如果重觸發(fā)信號次數未達到64次,需手動(dòng)給測試儀一個(gè)強制讀數信號使得儀器采樣結束。多次重觸發(fā)信號8次有效后,手動(dòng)強制讀數信號使得儀器結束采樣,通過(guò)上位機軟件判斷采集到的波形幅值和手動(dòng)調節的幅值是否對應。若對應,表明系統采樣正常。
實(shí)驗步驟:測試儀接通電源,此時(shí)測試儀采樣狀態(tài)指示燈的紅燈亮,和計算機接上編程讀數線(xiàn),打開(kāi)編程界面,設置多次重觸發(fā)的采樣頻率,其他選項均采用默認設置,編程完成后,拔掉編程讀數線(xiàn),測試儀上電(ON=0),紅燈開(kāi)始閃爍,將電荷校準儀的輸出接到測試儀面板上的通道端,設置電荷校準儀的輸出波形為正弦波,電荷量為2 000 PC,輸出信號,給系統一個(gè)觸發(fā)信號(M_TRI=1),紅燈閃爍一段時(shí)間后停止閃爍,表明系統第一次采樣完成,這時(shí)調節電荷校準儀的輸出電荷量為4 000 PC。再給系統一個(gè)觸發(fā)信號,重復前面過(guò)程,每次采樣完成后改變電荷量,直到綠燈亮,和計算機連上編程讀數線(xiàn),通過(guò)上位機軟件讀取數據,待數據讀取完畢,測試儀掉電(OFF=0),斷開(kāi)測試儀電源。圖4為多次重觸發(fā)波形。對圖4中的數據進(jìn)行轉換和處理得到實(shí)測的電荷量值如表1所示,從表1看出,采集到的波形幅值與調節的順序一致,系統設計符合要求。
5 結論
本文設計的基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲測試系統性能較穩定,測量精度較高,能在高沖擊等惡劣環(huán)境下正常工作,并且滿(mǎn)足系統的低功耗、微型化要求,實(shí)現不失真采樣存儲信號。此系統能夠實(shí)時(shí)記錄多次重觸發(fā)信號,每次信號的記錄均有負延遲,讀取數據時(shí),無(wú)需程序調整,即可準確復現記錄波形,因此存儲測試技術(shù)在多個(gè)瞬態(tài)信號的測量中具有廣闊前景。
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