為什么要發(fā)展測試友好技術(shù)

過(guò)去，若某一產(chǎn)品在上一測試點(diǎn)不能測試，那么這個(gè)問(wèn)題就被簡(jiǎn)單地推移到直一個(gè)測試
點(diǎn)上去。如果產(chǎn)品缺陷在生產(chǎn)測試中不能發(fā)現，則此缺陷的識別與診斷也會(huì )簡(jiǎn)單地被推移到
功能和系統測試中去。

相反地，今天人們試圖盡可能提前發(fā)現缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今
天的產(chǎn)品非常復雜，某些制造缺陷在功能測試中可能根本檢查不出來(lái)。例如某些要預先裝軟
件或編程的元件，就存在這樣的問(wèn)題。（如快閃存儲器或ISPs：In-System Programmable
Devices 系統內可編程器件）。這些元件的編程必須在研制開(kāi)發(fā)階段就計劃好，而測試系統
也必須掌握這種編程。

測試友好的電路設計要費一些錢(qián)，然而，測試困難的電路設計費的錢(qián)會(huì )更多。測試本身
是有成本的，測試成本隨著(zhù)測試級數的增加而加大；從在線(xiàn)測試到功能測試以及系統測試，
測試費用越來(lái)越大。如果跳過(guò)其中一項測試，所耗費用甚至會(huì )更大。