IC測試常見(jiàn)問(wèn)答

我在測試的時(shí)候，有些DC參數在同樣的條件下幾次測試的結果相差很大。不明白是為什么?

　　你使用的測試機臺是什么型號?測試的產(chǎn)品是屬于哪種?還有具體什么參數，相差多少?

　　我們用的是credence kalos，測試的是memory，在測ICC時(shí)，可能從幾百u(mài)A--幾十mA，實(shí)際值應該在十幾mA。

　　credence kalos 我沒(méi)有用過(guò)，不過(guò)ICC不穩定原因有很多，如果其他同批產(chǎn)品沒(méi)有這個(gè)問(wèn)題的話(huà)可能是這個(gè)IC的問(wèn)題，可以先做下BENCHTEST，一般初期診斷是更換測試機臺或者用標準器件做比較。個(gè)人看法，僅供參考

　　benchtest是什么意思?還有就是同一顆IC多次測試他為什么會(huì )不穩定。

　　狀態(tài)不穩定可能是ICC不穩定的原因 如果同一個(gè)芯片測試不穩定而且誤差比較大，可從以下2方面去看：

　　1. 在測量時(shí)芯片所處的狀態(tài)是否穩定。

　　2. 芯片的Input pin是否有Floating，Output pin是否在不停的翻轉

　　就是自己搭模擬電路測試，用電源，示波器...比較麻煩，而且需要APPLICATION BOARD，不知道你們有沒(méi)有。如果是同一顆不穩定，一般會(huì )交給DA或者FA去分析，CURVE TRACE先吧。

　　電源干凈么? 先看一下電源腳是否干凈。然后換一下電流的range來(lái)看一下，最好用樣品校驗一下。

　　電源很干凈，range應該也沒(méi)有問(wèn)題，它有10mA左右的電流，用25mA的range。應該沒(méi)有問(wèn)題，只是有時(shí)電流會(huì )變成100uA左右。樣品在10mA左右很穩定。

　　如果是MEMORY測試,可以對其寫(xiě)相同的數據讓口上不翻轉.然后看看會(huì )不會(huì )好點(diǎn).但是據你所說(shuō)樣品沒(méi)有問(wèn)題的話(huà),可能這個(gè)問(wèn)題無(wú)解.

　　多比較

　　IDD (ICC)一般為一個(gè)器件的特征值，分布范圍不會(huì )很大，100uA-10mA的變化肯定是異常的。

　　1) 如果真的是樣品在10mA左右很穩定, 那么設備及測試程序沒(méi)有問(wèn)題，產(chǎn)品的問(wèn)題可能很大，也不需要花費很大腦筋，正如Code631兄說(shuō)的，交給DA/FA。

　　2)如果產(chǎn)品沒(méi)有問(wèn)題，則要確認Hardware, Test Program方面的問(wèn)題

　　-〉 Hardware重點(diǎn)確認Relay的動(dòng)作是否穩定，可以在程序Meter讀之前設置斷點(diǎn)，然后不停的Strobe Meter，看Meter值是否穩定。這是驗證Hardware動(dòng)作靜止的情況下，電流值是否跳動(dòng)。

　　-〉 確認Drive Pattern是否正常，IDD和Pattern有直接的關(guān)系，如果Pattern編寫(xiě)不正常，會(huì )造成DUT功耗不穩定。

　　但是，如果標準樣品穩定，就不