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全球IC測試龍頭疫情持續發(fā)酵 臺積電或被波及 風(fēng)暴席卷當地整個(gè)科技產(chǎn)業(yè)鏈

  • 據臺灣地區經(jīng)濟日報報道,中國臺灣半導體廠(chǎng)染疫已由京元電子、超豐等半導體封測廠(chǎng),蔓延到晶圓代工龍頭臺積電,以及網(wǎng)通產(chǎn)品供應商智邦科技,甚至與京元電子往來(lái)的IC設計公司員工也被要求快篩,不僅將沖擊苗栗竹南科學(xué)園區,恐將進(jìn)一步影響位于竹科的廠(chǎng)商,對產(chǎn)業(yè)沖擊也將由半導體、網(wǎng)絡(luò ),進(jìn)一步擴大到臺灣地區整個(gè)科技產(chǎn)業(yè)鏈?! √幱陲L(fēng)暴之眼的京元電子在全球封測市占率約3.7%,為第八大封測廠(chǎng)。其苗栗縣廠(chǎng)區近日爆出多名員工確診新冠肺炎?! 榱吮苊庖咔樵俣葦U大,該公司相關(guān)廠(chǎng)區自4日夜班到6月6日的日班為止停工2天,進(jìn)行廠(chǎng)區消毒
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IC測試原理解析(第四部分―射頻/無(wú)線(xiàn)芯片測試基礎)

  • 芯片測試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理,第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應用,第三章介紹了
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混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢

  • 掃描測試是測試集成電路的標準方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動(dòng)測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術(shù),特點(diǎn)是結果的可預測性高并且效果不錯。它還能實(shí)現精確的缺陷診斷,有助于
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集成電路獨立測試基地在鎮江建成

  •   日前,江蘇艾科半導體二期項目在鎮江新區科技新城竣工開(kāi)業(yè),其中總投資2億元的集成電路第三方獨立測試服務(wù)基地,填補了我省該領(lǐng)域的空白,并為鎮江集聚集成電路產(chǎn)業(yè)提供支撐。下一步,該企業(yè)將與中科院微電子所共享科研成果,通過(guò)合作方式承擔廠(chǎng)商外包訂單。   此次合作,由鎮江現代服務(wù)業(yè)中中高端IC測試工程服務(wù)的領(lǐng)軍企業(yè)艾科公司,與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設集成電路測試基地,其中,VEGI公司出資1500萬(wàn)美元用于測試設備采購,艾科出資2億元人民幣用于測試設備采購、環(huán)境建設及流動(dòng)資金。項目建成后,將為
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集成電路獨立測試基地在鎮江建成

  •   日前,江蘇艾科半導體二期項目在鎮江新區科技新城竣工開(kāi)業(yè),其中總投資2億元的集成電路第三方獨立測試服務(wù)基地,填補了我省該領(lǐng)域的空白,并為鎮江集聚集成電路產(chǎn)業(yè)提供支撐。下一步,該企業(yè)將與中科院微電子所共享科研成果,通過(guò)合作方式承擔廠(chǎng)商外包訂單。   此次合作,由鎮江現代服務(wù)業(yè)中中高端IC測試工程服務(wù)的領(lǐng)軍企業(yè)艾科公司,與VEGI公司共同投資3億元人民幣建設集成電路測 試基地,其中,VEGI公司出資1500萬(wàn)美元用于測試設備采購,艾科出資2億元人民幣用于測試設備采購、環(huán)境建設及流動(dòng)資金。項目建成后,將
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IC測試常見(jiàn)問(wèn)答

  • 我在測試的時(shí)候,有些DC參數在同樣的條件下幾次測試的結果相差很大。不明白是為什么?  你使用的測試機臺是 ...
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IC測試原理解析(第四部分―射頻/無(wú)線(xiàn)芯片測試基礎

  • 芯片測試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是最后一章。第一章介紹了芯片測試的基本原理,第二章介紹了這些基本原理在存儲器和邏輯芯片的測試中的應用,第三章介紹了
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IC測試原理解析(第三部分)

  • 芯片測試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是第三章。我們在第一章介紹了芯片測試的基本原理;第二章討論了怎么把這些基本原理應用到存儲器和邏輯芯片的測試上;本文
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IC測試原理解析(第二部分)

  • 芯片測試原理討論在芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中芯片測試的基本原理,一共分為四章,下面將要介紹的是第二章。我們在第一章介紹了芯片的基本測試原理,描述了影響芯片測試方案選擇的基本因素,定義了芯片測試過(guò)程中的常用術(shù)
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IC測試原理解析(第一部分)

  • 本系列一共四章,下面是第一部分,主要討論芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中的IC測試基本原理, 內容覆蓋了基本的測試原理,影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術(shù)語(yǔ)。第一章 數字集成電路測試的基本原理器件測試的主要目
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可降低下一代IC測試成本的確定性邏輯內置自測技術(shù)

  • 20世紀70年代隨著(zhù)微處理器的出現,計算機和半導體供應商逐漸認識到,集成電路需要在整個(gè)制造過(guò)程中盡可能早地進(jìn)行測試,因為芯片制造缺陷率太高,不能等到系統裝配好后再測試其功能是否正確,所以在IC做好之后就應對
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提升IC測試廠(chǎng)的產(chǎn)能利用率

  • 前言IC測試廠(chǎng)最重要的兩大指標就是測試品質(zhì)與生產(chǎn)效率。測試品質(zhì)的關(guān)鍵在于測試的再現性與可重復性,而生產(chǎn)要素除了合格率的因素外,最主要的就是測試設備的產(chǎn)能利用率。在質(zhì)的方面,對于經(jīng)過(guò)測試的每一顆IC,要求在
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藍牙收發(fā)器transceiver IC測試

  • 藍牙規范的第一個(gè)正式版本1.0版已于1999年7月發(fā)布,之后許多廠(chǎng)商都推出了支持藍牙產(chǎn)品的高性?xún)r(jià)比集成電路芯片。隨著(zhù)藍牙產(chǎn)品越來(lái)越普及,制造商需要以較低的成本完成大量測試工作。本文針對藍牙射頻前端收發(fā)器,著(zhù)重
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芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)中的IC測試基本原理分析

  • 1 引言  本文主要討論芯片開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中的IC測試基本原理,內容覆蓋了基本的測試原理,影響測試決策的基本因素以及IC測試中的常用術(shù)語(yǔ)?! ? 數字集成電路測試的基本原理  器件測試的主要目的是保證器件在惡
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IC測試技術(shù)將進(jìn)入新的階段

  • 一、降低測試成本提高測試速度勢在必行任何一種電子產(chǎn)品都離不開(kāi)體積小、功能強的芯片,正是芯片推動(dòng)著(zhù)IC飛...
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ic測試介紹

  IC測試   任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設計的單片模塊,IC測試就是集成電路的測試,就是運用各種方法,檢測那些在制造過(guò)程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的樣品。如果存在無(wú)缺陷的產(chǎn)品的話(huà),集成電路的測試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過(guò)程所帶來(lái)的以及材料本身或多或少都有的缺陷,因而無(wú)論怎樣完美的產(chǎn)品都會(huì )產(chǎn)生不良的個(gè)體,因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。   IC [ 查看詳細 ]

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